[发明专利]一种测量光纤陀螺仪光路损耗的装置及测量方法

说明书

一种测量光纤陀螺仪光路损耗的装置，包括机箱、变压器、光源板、数显电压表、数显电流表；变压器、光源板、数显电压表、数显电流表均设置在机箱内部，IC锁紧座与接插件插座设置在机箱侧盖；变压器一端连接外部电源，变压器另一端分两路，一路连接IC锁紧座，另一路依次连接光源板、数显电流表和接插件插座；数显电压表并联在IC锁紧座上；待测陀螺仪设置在机箱外部。本发明测量效率远高于传统光路测量方法，提高八倍以上；本发明不触碰光路，避免引入人为干扰；本发明避免了传统光路测量方法中对插入损耗的忽视，准确度更高。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，具体涉及一种测量光纤陀螺仪光路损耗的装置及测量方法。

背景技术

目前光纤陀螺仪制作在光路装配完成后，各个光学元器件极易受到人工装配环节与外界环境的影响，从而影响到整个光纤陀螺仪的性能，通过对光路装配后光路损耗的测量，可以有效地控制整个光纤陀螺仪光路装配的合格率。

现阶段对于光路性能的测量方法较少，主要为光路在探测器装配前，光源正常工作时使用光功率测试仪测量与探测器待熔接光纤端光路输出光功率，然后查询光源光功率，通过公式α＝-10lg(Pout/Pin)的方式计算光路损耗，该方法未将探测器插入损耗及耦合器与探测器熔点损耗计算在内，而探测器性能与熔接点质量又极大影响了光纤陀螺仪的测量精度，故原方法不能完全准确测量整个光纤陀螺仪的光路损耗。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测量光纤陀螺仪光路损耗的装置及测量方法，以解决上述问题。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种测量光纤陀螺仪光路损耗的装置，包括机箱、变压器、光源板、数显电压表、数显电流表；变压器、光源板、数显电压表、数显电流表均设置在机箱内部，IC锁紧座与接插件插座设置在机箱侧盖；变压器一端连接外部电源，变压器另一端分两路，一路连接IC锁紧座，另一路依次连接光源板、数显电流表和接插件插座；数显电压表并联在IC锁紧座上；待测陀螺仪设置在机箱外部。

进一步的，光源板包括驱动模块、温控模块和调速电位器；变压器分出的另一路分为两支路，一支路依次连接调速电位器、驱动模块和数显电流表，另一支路连接温控模块，两支路与接插件插座连接。

进一步的，调速电位器串联有开关；光源板的个数为三个，每个光源板均对应一个数显电流表；三个数显电压表和三个数显电流表并排设置在机箱外壳上；且每个数显电压表侧面的机箱上均设置有开关，每个数显电流表的侧面的机箱上均设置有调速电位器。

进一步的，变压器串联有开关；连接光源板的支路上并联有散热风扇，散热风扇位于机箱外壳上。

进一步的，IC锁紧座安装在接插件插座下方；接插件插座作为光源插座，IC锁紧座作为探测器插座。

进一步的，机箱底部设置有橡胶支撑脚柱。

进一步的，一种测量光纤陀螺仪光路损耗的装置的测量方法，包括以下步骤：

步骤1，在进行光路测试前，在待测光纤陀螺仪光源管脚焊接接插件插头；

步骤2，测试时，将探测器插装于IC锁紧座，整理尾纤后，将焊接好的接插件插头与接插件插座对接；

步骤3，打开总开关，由数显电压表上读取此时的数值，记作Vn，再打开开关，通过调速电位器将数显电流表上的数值调至100，读取此时数显电压表上的数值，记作V；

步骤4，若需要测量不同驱动电流时的探测器输出电压值，将调速变位器旋钮调节至数显电流表数值为所需数值时停止旋转，读取此时的数显电压表上的数值，测试完成后通过对调速变位器的控制，将数显电流表上的数值调整为100，并依次关闭开关、总开关，将已对接器件从该仪器上取下；