[发明专利]局部放电高频信号定位方法、装置及介质

权利要求书

1.一种局部放电高频信号定位方法，其特征在于，包括：

于预设坐标空间内至少三个不同的已知位置信息的测量点分别获取高频采样信号；

获取各所述高频采样信号的接收时刻；

根据所述位置信息、所述接收时刻确定局部放电点的位置信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取各所述高频采样信号的接收时刻包括：

对于任一测量点的高频采样信号，确定所述高频采样信号的移位标准波形，以所述移位标准波形为移位基准对所述高频采样信号进行移位，对移位后的高频采样信号进行叠加并获取平均高频采样信号；

确定一测量点为参考点并获取其高频采样信号的接收时刻为参考时刻；

获取各测量点的平均高频采样信号与所述参考点的平均高频采样信号的时间差，所述时间差为高频采样信号的接收时刻的时间差；

根据所述参考时刻及各所述时间差确定各所述高频采样信号的接收时刻。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取各测量点的平均高频采样信号与所述参考点的平均高频采样信号的时间差包括：

采用累积能量法对任一所述平均高频采样信号进行能量转换，以获取能量累积曲线；

根据所述能量累积曲线通过能量相关搜索来计算所述时间差。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述根据所述位置信息、所述接收时刻确定局部放电点的位置信息包括：

根据所述位置信息及所述接收时刻建立局部放电点的位置坐标的计算公式；

根据所述计算公式计算所述局部放电点的位置坐标。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述位置信息及所述接收时刻建立局部放电点的位置坐标的计算公式为：

上式中，(x，y，z)为局部放电点在所述坐标空间内坐标，(x_Si，y_Si，z_Si)为对数周期天线Si的坐标；t为高频信号从局部放电点到参考天线S0的传播时间，t₁为对数周期天线S1的高频采样信号的接收时刻与参考天线S0的高频采样信号的接收时刻的时间差；t₂为对数周期天线S2的高频采样信号的接收时刻与参考天线S0的高频采样信号的接收时刻的时间差；v_s为高频信号的传播速度，i＝0，1，2。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述计算公式计算所述局部放电点的位置坐标包括：

在笛卡尔坐标系中，根据所述位置信息及所述接收时刻获取局部放电点至对数周期天线Si的距离为L⁰_ki，确定搜索空间内任一搜索点k至对数周期天线Si的距离为L_ki，建立几何矢量f⁰_k，f_k为：

f⁰_k＝(L⁰_k0，L⁰_k1，L⁰_k2)，

f_k＝(L_k0，L_k1，L_k2)；

根据如下公式计算矢量f⁰_k、f_k的欧氏距离d(k)：

获取d(k)最小时的搜索点的坐标值为局部放电点的位置坐标；

其中，i＝0，1，2。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述于预设坐标空间内至少三个不同的已知位置信息的测量点分别获取高频采样信号包括：

于预设坐标空间内至少三个不同的已知位置信息的测量点分别设置对数周期天线；

基于各所述对数周期天线分别获取高频采样信号。