[发明专利]离散激光测量系统光轴外化方法和集成调试方法有效
申请号: | 202011301680.2 | 申请日: | 2020-11-19 |
公开(公告)号: | CN112433385B | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 达争尚;郑小霞;李红光;高立民;孙策 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G02B27/62 | 分类号: | G02B27/62;G02B27/00 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 王凯敏 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 离散 激光 测量 系统 光轴 外化 方法 集成 调试 | ||
1.离散激光测量系统光轴外化方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,设计并加工用于装调离散激光测量系统的装调平台;
所述装调平台上设置有s行h列的定位安装孔;相邻两行、相邻两列的间距均为基准间距A的整数倍;s、h的取值应使得定位安装孔2的数目能够满足后续步骤2中标记连线出与激光测量系统光学光轴一致的孔位线的需求;
所述的装调平台由多个间隔、离散设置的独立平台组成,相邻两个独立平台之间的间距为所述基准间距A的整数倍;
每个独立平台上设置有m行n列的定位安装孔;m≥2;n≥2;不同独立平台上设置的定位安装孔的行、列数目不相等;在X和Y向上,各独立平台的定位安装孔的孔位是对齐的;X向为独立平台表面所在XOY平面的横向,Y向为独立平台表面所在XOY平面的纵向;
所述基准间距A≥25mm,
步骤2,将待装调的离散激光测量系统的光学光轴引出至所述装调平台上;
通过光学设计仿真软件,获取离散激光测量系统的光学光轴,根据该光学光轴,在所述装调平台上选取相应的多个定位安装孔并连线,得到与该光学光轴一致的孔位线,该孔位线即可作为待装调的离散激光测量系统的装调基准。
2.根据权利要求1所述的离散激光测量系统光轴外化方法,其特征在于:步骤1中所述的每个独立平台上的定位安装孔是均布设置的。
3.根据权利要求1所述的离散激光测量系统光轴外化方法,其特征在于:步骤1中所述装调平台上的定位安装孔是均布设置的。
4.离散激光测量系统集成调试方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,采用权利要求1-3任一所述的光轴外化方法,将待装调的离散激光测量系统的光学光轴引至装调平台上,在装调平台上标记出与光学光轴一致的孔位线;
步骤2,安装调试各光学元件
将待装调的离散激光测量系统中各光学元件安装在其相应的结构件上,然后将各光学元件及其结构件整体定位安装在所述孔位线上相应位置处,并调整使得各结构件的中心轴线与所述孔位线重合,然后在所述孔位线上调整各结构件的距离使得各光学元件之间的距离满足光学设计要求。
5.根据权利要求4所述的离散激光测量系统集成调试方法,其特征在于:若用于定位安装光学元件的结构件的中心轴线与光学元件的光轴不重合,则在步骤2之前还需要重新设计该光学元件的结构件,使得其中心轴线与光学元件的光轴重合。
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