[发明专利]一种消杂光机构及红外探测装置有效
申请号: | 202011303699.0 | 申请日: | 2020-11-19 |
公开(公告)号: | CN112379515B | 公开(公告)日: | 2022-02-22 |
发明(设计)人: | 王灵杰;张新;吴洪波;胡铭钰;谭双龙 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G02B27/00 | 分类号: | G02B27/00;G01V8/10 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 曹卫良 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 消杂光 机构 红外 探测 装置 | ||
1.一种消杂光机构,其特征在于,包括:
主镜,设置在光轴上,所述主镜的中心处设置有中心孔;
次镜,设置在光轴上;
视场光阑,设置在所述主镜与所述次镜之间,且将从所述主镜出现小角度杂光路径到所述中心孔以内的半径区域的镜面改变角度,使进入所述半径区域的外杂光入射后,经过改变角度后的所述主镜的消杂光表面,反射到所述次镜之外;
还包括外遮光罩,所述外遮光罩设置在所述主镜之外,并连接至所述主镜;
所述消杂光表面由如下方式确定:
设出现小角度杂光范围最大直径Dz与所述主镜交于A点,所述主镜的中心孔下边缘为B点,所述外遮光罩下边缘为点P,所述次镜下边缘为点M,连接AP与AM,作角平分线A1A,再过点A作AB1交视场光阑平面于点B1,使AB1垂直于A1A,AB1即为所述主镜的消杂光表面;
所述消杂光表面与光轴之间形成有夹角θ,所述夹角满足以下条件:
其中,所述主镜的直径为D0,
视场角为ω,所述次镜的直径为D1,
所述主镜的中心孔直径为Dh,
出现小角度杂光范围直径为Dz,
所述外遮光罩的长度为L,
所述主镜和所述次镜的距离为L0,
所述主镜出现杂光范围半径处到主镜边缘矢高为h1,
所述主镜出现杂光范围半径处到主镜中心孔矢高为h2。
2.根据权利要求1所述的消杂光机构,其特征在于,所述主镜的消杂光表面为镜面。
3.根据权利要求1所述的消杂光机构,其特征在于,所述视场光阑的前表面上设置有在红外谱段吸收率高于97%的消光漆,所述消光漆的厚度为0.04-0.08mm。
4.根据权利要求2所述的消杂光机构,其特征在于,所述主镜的消杂光表面与所述主镜设置有相同的反射膜,且所述主镜的消杂光表面在红外谱段的反射率高于98%。
5.根据权利要求4所述的消杂光机构,其特征在于,所述主镜的消杂光表面与所述主镜相连,形成一体的复合面型。
6.根据权利要求1所述的消杂光机构,其特征在于,所述外遮光罩内设置有消光漆。
7.一种红外探测装置,其特征在于,所述红外探测装置包括如权利要求1-6任一项所述的消杂光机构。
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