[发明专利]一种光电特性的获取方法、装置、存储介质及终端设备有效
申请号: | 202011304187.6 | 申请日: | 2020-11-19 |
公开(公告)号: | CN114519326B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | 林智远;唐延民;唐振宇 | 申请(专利权)人: | TCL科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/392 | 分类号: | G06F30/392;G06F30/398;G06N3/045;G06N3/048;G06N3/084 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 温宏梅 |
地址: | 516000 广东省惠州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光电 特性 获取 方法 装置 存储 介质 终端设备 | ||
1.一种光电特性的获取方法,其特征在于,所述方法包括:
基于集成电路的电路版图确定所述集成电路对应的位置参量;
基于经过训练的检测网络模型以及所述位置参量,确定所述集成电路对应的光电特性;
所述检测网络模型包括第一全连接模块、变换模块以及第二全连接模块,所述基于经过训练的检测网络模型以及所述位置参量,确定所述集成电路对应的光电特性具体包括:
将所述位置参量输入第一全连接模块,通过所述第一全连接模块输出第一特征向量;
将所述第一特征向量输入变换模块,通过所述变换模块输出第二特征向量,其中,所述第一特征向量的维度与所述第二特征向量的维度相等;
将所述第二特征向量输入第二全连接模块,通过所述第二全连接模块输出所述集成电路对应的光电特性。
2.根据权利要求1所述的光电特性的获取方法,其特征在于,所述第一特征向量的维度小于所述位置参量的维度。
3.根据权利要求1所述的光电特性的获取方法,其特征在于,所述检测网络模型包括第一网络模型和第二网络模型;所述基于经过训练的检测网络模型以及所述位置参量,确定所述集成电路对应的光电特性具体包括:
将所述位置参量输入第一网络模型,通过所述第一网络模型输出候选位置参量,其中,候选位置参量的维度小于所述位置参量的维度;
将所述候选位置参量输入所述第二网络模型,通过所述第二网络模型输出所述集成电路对应的光电特性。
4.根据权利要求1所述的光电特性的获取方法,其特征在于,所述检测网络模型的训练过程具体包括:
获取训练样本集,其中,所述训练样本集包括若干训练位置参量以及各训练位置参量各自对应的目标光电特性;
将所述训练样本集中的训练位置参量输入预设网络模型,通过预设网络模型输出该训练位置参量对应的预测光电特性;
基于所述预测光电特性以及所述目标光电特性,对所述预设网络模型进行训练,以得到所述检测网络模型。
5.根据权利要求4所述的光电特性的获取方法,其特征在于,所述获取训练样本集具体包括:
获取训练集成电路集;
对于每个训练集成电路,确定该训练集成电路的电路版图对应的训练位置参量,并通过电路模拟器确定该训练集成电路对应的目标光电特性;
基于各训练集成电路各自对应的训练位置参量及目标光电特性,确定训练样本集。
6.根据权利要求1所述的光电特性的获取方法,其特征在于,所述集成电路为TFT电路。
7.根据权利要求1所述的光电特性的获取方法,其特征在于,所述基于经过训练的检测网络模型以及所述位置参量,确定所述集成电路对应的光电特性之后,所述方法还包括包括:
基于所述光电特性及位置参量,确定所述位置参量对应的调整参量;
基于所述调整参量对所述位置参量进行调整以得到目标位置参量,并基于所述目标位置参量确定调整后的集成电路。
8.根据权利要求7所述的光电特性的获取方法,其特征在于,所述基于所述光电特性及位置参量,确定所述位置参量对应的调整参量具体包括:
获取所述光电特性对应的误差值;
基于所述误差值及所述位置参量,确定所述位置参量对应的调整参量。
9.根据权利要求8所述的光电特性的获取方法,其特征在于,所述获取所述光电特性对应的误差值具体包括:
获取所述集成电路对应的光电特性限制条件,并基于所述光电特性限制条件确定所述集成电路对应的目标函数;
基于所述目标函数,确定所述光电特性对应的误差值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于TCL科技集团股份有限公司,未经TCL科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011304187.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。