[发明专利]一种基于双层贵金属微纳结构的电场探测装置

说明书

本发明提供了一种基于双层贵金属微纳结构的电场探测装置，基底层的表面设有凹坑，加热部置于凹坑内，加热部的表面与基底层的表面齐平，第一贵金属微纳结构层固定在加热部上，有机共轭聚合物材料部置于第一贵金属微纳结构层和基底层上，第二贵金属微纳结构层置于第一贵金属微纳结构层顶部的有机共轭聚合物材料部表面上，第一施力部和第二施力部分别置于基底层上加热部的两侧，第一施力部和第二施力部分别固定连接在有机共轭聚合物材料部的两端，第一贵金属微纳结构层与第二贵金属微纳结构层构成手性复合结构。本发明具有电场探测灵敏度高的优点。

技术领域

本发明涉及电场探测领域，具体涉及一种基于双层贵金属微纳结构的电场探测装置。

背景技术

电场的测量不仅对导弹、航空器、火箭发射等军工意义重大，而且对城市环境污染、炼油厂、超净实验室、储油站等民用地面上容易引起静电和容易受静电及雷达危害的场所也有着广泛的应用。传统电场测量装置的灵敏度低，探索基于新原理的电场探测技术对提高电场测量的灵敏度具有重要意义。

发明内容

为解决以上问题，本发明提供了一种基于双层贵金属微纳结构的电场探测装置，包括基底层、加热部、第一贵金属微纳结构层、有机共轭聚合物材料部、第二贵金属微纳结构层、第一施力部、第二施力部，基底层的表面设有凹坑，加热部置于凹坑内，加热部的表面与基底层的表面齐平，第一贵金属微纳结构层固定在加热部上，有机共轭聚合物材料部置于第一贵金属微纳结构层和基底层上，第二贵金属微纳结构层置于第一贵金属微纳结构层顶部的有机共轭聚合物材料部表面上，第一施力部和第二施力部分别置于基底层上加热部的两侧，第一施力部和第二施力部分别固定连接在有机共轭聚合物材料部的两端，第一贵金属微纳结构层与第二贵金属微纳结构层构成手性复合结构。

更进一步地，有机共轭聚合物材料部的材料为聚3-己基噻吩。

更进一步地，第一贵金属微纳结构层包括多个第一纳米棒，第一纳米棒周期排布；第二贵金属微纳结构层包括多个第二纳米棒，第二纳米棒周期排布。

更进一步地，周期为方形。

更进一步地，第一纳米棒沿第一施力部和第二施力部的连线方向。

更进一步地，第二纳米棒的方向垂直于第一施力部和第二施力部的连线方向。

更进一步地，第二纳米棒的端部位于第一纳米棒端部的上方。

更进一步地，第一纳米棒和第二纳米棒的材料为金或银。

更进一步地，在第二贵金属微纳结构层上设有第二有机共轭聚合物材料。

更进一步地，第二有机共轭聚合物材料与有机共轭聚合物材料部的材料相同。