[发明专利]一种基于光纤的电场探测装置

权利要求书

1.一种基于光纤的电场探测装置，其特征在于，包括基底层、加热部、第一施力部、第二施力部、有机共轭聚合物材料部、第一光纤、第二光纤，所述有机共轭聚合物材料部的材料为有机共轭聚合物材料，所述基底层的表面设有凹坑，所述加热部置于所述凹坑内，所述第一施力部和所述第二施力部置于所述基底层上所述加热部的两侧，所述有机共轭聚合物材料部置于所述第一施力部和所述第二施力部之间，所述第一施力部和所述第二施力部固定连接在所述有机共轭聚合物材料部的两端，所述第一光纤和所述第二光纤固定在所述有机共轭聚合物材料部的顶部，所述第一光纤的端面和所述第二光纤的端面之间设有间隙，所述有机共轭聚合物材料填充所述间隙。

2.如权利要求1所述的基于光纤的电场探测装置，其特征在于：所述有机共轭聚合物材料为聚3-己基噻吩。

3.如权利要求2所述的基于光纤的电场探测装置，其特征在于：所述第一光纤和所述第二光纤的方向与所述第一施力部和所述第二施力部的连线方向平行。

4.如权利要求3所述的基于光纤的电场探测装置，其特征在于：所述间隙的宽度小于1微米。

5.如权利要求1-4任一项所述的基于光纤的电场探测装置，其特征在于：还包括贵金属颗粒，所述贵金属颗粒设置在所述间隙内的所述有机共轭聚合物材料内。

6.如权利要求5所述的基于光纤的电场探测装置，其特征在于：所述贵金属颗粒的个数为多个。

7.如权利要求6所述的基于光纤的电场探测装置，其特征在于：所述贵金属颗粒的材料为金或银。

8.如权利要求7所述的基于光纤的电场探测装置，其特征在于：所述贵金属颗粒的直径大于30纳米、小于100纳米。

9.如权利要求8所述的基于光纤的电场探测装置，其特征在于：还包括固定层，所述固定层覆盖所述第一光纤、所述第二光纤、所述间隙。

10.如权利要求1-9任一项所述的基于光纤的电场探测装置，其特征在于：所述固定层的材料为所述有机共轭聚合物材料。