[发明专利]电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座

说明书

本发明提供一种能够高精度地实施具有天线的DUT的OTA测试的电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座。电子部件处理装置具备：恒温槽；使DUT移动并将其按压于插座的处理器；与恒温槽相邻配置的电波暗室；配置于电波暗室的内部的测试天线；和能够使从DUT的设备天线或测试天线辐射的电波透过的窗构件，恒温槽具备形成于该恒温槽的壁面的开口，电波暗室具备配置于该电波暗室的内壁的电波吸收件、和朝向测试天线的电波的收发方向开口的开口，恒温槽和电波暗室以开口与开口对置的方式连接，窗构件封闭开口。

技术领域

本发明涉及在具有天线的被测试电子部件(DUT：Device Under Test)的测试中使用的电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座。

背景技术

作为决定无线设备的辐射性能特性的方法，已知有在消声室内的安装机构安装无线设备来测定来自无线设备的信号的方法(OTA(Over the Air：空中下载)测试)(例如参照专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特表2008-518567号公报

发明内容

发明所要解决的问题

然而，在上述方法中，存在如下问题：如果在施加温度的同时进行测定，则消声室内的吸收材料由于热应力而劣化，有时不能高精度地测定无线设备的性能。

本发明所要解决的问题在于提供一种能够高精度地实施具有天线的DUT的OTA测试的电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座。

用于解决问题的手段

[1]本发明所涉及的电子部件处理装置具备：恒温槽，能够在内部配置与具有第一天线的DUT电连接的插座；移动单元，能够使所述DUT移动并将该DUT按压于所述插座；电波暗室，与所述恒温槽相邻配置；第二天线，配置于所述电波暗室的内部；以及第一窗构件，能够使从所述第一天线或第二天线辐射的电波透过，所述恒温槽具备形成于所述恒温槽的壁面的第一开口，所述电波暗室具备：电波吸收件，配置于所述电波暗室的内壁；以及第二开口，朝向所述第二天线的电波的收发方向开口，所述恒温槽和所述电波暗室以所述第一开口与所述第二开口对置的方式连接，所述第一窗构件封闭所述第一开口。

[2]在上述发明中，也可以构成为，所述第一窗构件具备：一对板状构件，能够使从所述第一天线或第二天线辐射的电波透过；以及间隔件，介于所述一对板状构件之间，并在所述一对板状构件之间形成空间，所述电子部件处理装置具备供给装置，该供给装置能够向所述空间供给干燥空气。

[3]在上述发明中，也可以构成为，所述电子部件处理装置具备加热装置，该加热装置对所述一对板状构件当中的配置于所述电波暗室侧的所述板状构件进行加热。

[4]在上述发明中，也可以构成为，所述移动单元具备保持所述DUT的保持部，所述保持部具备反射从所述第一天线及第二天线辐射的电波的反射器，所述反射器相对于所述插座的主面倾斜。

[5]在上述发明中，也可以构成为，所述反射器以在所述插座的主面的法线方向上与所述第一天线对置的方式设置于所述保持部。

[6]在上述发明中，也可以构成为，所述保持部具备与所述DUT抵接的抵接部，所述反射器被保持于所述抵接部。

[7]在上述发明中，也可以构成为，所述保持部具备：筒状的抵接部，以包围所述第一天线的方式与所述DUT抵接；以及抽吸装置，对所述抵接部内的空间进行抽吸，所述抵接部具备：第三开口，形成于所述抵接部的侧壁；以及第二窗构件，能够使从所述第一天线或第二天线辐射的电波透过，所述第二窗构件封闭所述第三开口，所述反射器以与所述第二窗构件对置的方式配置于所述抵接部的内部。