[发明专利]新型多电极Seebeck系数测量方法

说明书

本发明公开了新型多电极Seebeck系数测量方法，包括电极一、电极二、电极三、电极四和待测样品，所述待测样品上方分别设置有电极一、电极二、电极三和电极四，所述电极一、电极二、电极三和电极四的接触热电势分别为V1、V2、V3和V4。该新型多电极Seebeck系数测量方法通过增加测试时电极的数目，增加可测得物理量，从而消去了接触热电势对Seebeck系数测量的影响，一次测量即可快速准确的得到材料的Seebeck系数及其误差值。

技术领域

本发明涉及Seebeck系数测量技术领域，具体为新型多电极Seebeck系数测量方法。

背景技术

塞贝克效应（Seebeck effect）指的是由物体温度差引起的电势差的现象。Seebeck系数作为材料的本征特性之一，其不受材料尺寸形状影响，仅与温度相关。目前主要热电势测量方法按原理来分有两种：倒相法和微分法，但目前不管哪种方法均需要电极与待测样品接触良好且均采用两个电极。与电阻测量过程中容易遇到的问题类似，因为存在着电极与待测样品之间的接触电阻，当待测样品本身电阻值较小或与接触电阻量级相当时，不能用普通的二电极法来测量，必须使用四电极法来排除接触电阻的影响。同样在热电势的测量中，电极与样品的接触往往也会产生接触电阻，该部分接触电阻容易产生额外的接触热电势，对于通常的功能热电材料，因为其热电势系数较大，其接触热电势相对较小，因此接触热电势的影响往往被人们所忽略。但当待测材料为金属或合金时，其热电势往往比较小，为μV/K级别，此时接触热电势的影响不能完全忽略。

简单来说，传统热电势的测量均是采用两电极法进行测量，但对于金属类材料因为其本征热电势较小，传统两电极法测量过程中接触电阻带来的寄生热电势的影响较大，导致测量不准确。因此需要一种避免接触热电势对小Seebeck系数材料测量的影响的测量方法。

发明内容

本发明的目的在于提供新型多电极Seebeck系数测量方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：新型多电极Seebeck系数测量方法，包括电极一、电极二、电极三、电极四和待测样品，所述待测样品上方分别设置有电极一、电极二、电极三和电极四，所述电极一、电极二、电极三和电极四的接触热电势分别为V1、V2、V3和V4。

优选的，所述电极一、电极二、电极三和电极四的测试测得的物理量温度分别为T1、T2、T3和T4。

优选的，所述电极一和电极二之间电势差为V12，所述电极一和电极三之间电势差为V13，所述电极一和电极四之间电势差为V14。

优选的，所述电极二和电极三之间电势差为V23，所述电极二和电极四之间电势差为V24。

优选的，所述电极三和电极四之间电势差为V34。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：该新型多电极Seebeck系数测量方法通过增加测试时电极的数目，增加可测得物理量，从而消去了接触热电势对Seebeck系数测量的影响，一次测量即可快速准确的得到材料的Seebeck系数及其误差值，同时因为消去了接触热电势的影响，测量过程中不需要对样品的尺寸和表面平整度有特别要求，特别适合需要快速测试以及样品Seebeck系数较小的材料。

附图说明

图1为本发明测量方法示意图。

图中：1、电极一，2、电极二，3、电极三，4、电极四，5、待测样品。

本发明中的零件均可通过市场购买和私人定制获得。

具体实施方式

为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。