[发明专利]SDIO接口的测试方法及装置、存储介质、终端

说明书

一种SDIO接口的测试方法及装置、存储介质、终端，SDIO接口测试方法包括：对SDIO接口进行初始化；至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整；按照多个调整后的时钟信号对所述SDIO接口的输入输出数据进行采样；将采样到的数据与预设数据进行比较，并输出比较结果。本发明技术方案能够安全高效地实现SDIO接口的测试。

技术领域

本发明涉及信号测试技术领域，尤其涉及一种SDIO接口的测试方法及装置、存储介质、终端。

背景技术

安全数字输入输出(Secure Digital Input and Output,SDIO)在SD标准上定义了一种外设接口。目前，SDIO主要有两类应用：可移动设备和不可移动设备。可移动设备可以用来增加蓝牙、照相机、GPS和802.11b功能。SDIO和SD卡规范间的一个重要区别是增加了低速标准。SDIO卡只需要串行外设接口(Serial Peripheral Interface,SPI)和1位SD传输模式。低速卡的目标应用是以最小的硬件开支支持低速I/O能力。低速卡支持类似调制解调器、条码扫描仪和GPS接受器等应用。SDIO是未来嵌入式系统最重要的接口技术之一，所以当前的移动片上系统(System on Chip)处理器都带有至少一个的SDIO主(HOST)接口，方便对功能进行扩展，所以在SOC出厂前的最终(final test)测试中需要对这个接口进行测试，目前的测试方法就是接上一张特定功能SDIO卡，使处理器识别这张卡并对这张卡读写数据，如果读写数据正确，那么SOC的SDIO接口就是正常的，反之，则判断为异常。

分析眼图可以得出信号的传输质量，这是一种快速而又非常直观的观测手段。分析眼图对于实际系统调试安全数字输入输出(Secure Digital Input and Output,SDIO)效率不高，一般需要软件和硬件工程师同时参与。即使硬件工程师测量到的眼图没问题，也不代表该眼图所得到的延迟值(Delay Value)是合适的。因为硬件布局走线和外设的差异，如不同厂家的安全数码卡(Secure Digital Memory Card,SD卡)、WIFI芯片等，所带来的SDIO的延迟值(Delay Value)不同。

但是，如果直接测量SDIO眼图信号，需要破坏板子和焊接飞线，效率低且无法大规模测试。即使满足上述条件，测量到的信号也是外部输入/输出(Input/Output,IO)上的信号，只能判断是否符号规范标准，不能反应实际片上系统(System on Chip)内部SDIO控制器及其端口物理层(Port Physical Layer,PHY)是否能工作正常。

发明内容

本发明解决的技术问题是如何安全高效地实现SDIO接口的测试。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种SDIO接口测试方法，SDIO接口测试方法包括：对SDIO接口进行初始化；至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整；按照多个调整后的时钟信号对所述SDIO接口的输入输出数据进行采样；将采样到的数据与预设数据进行比较，并输出比较结果。

可选的，所述至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整包括：直接按照多个不同延时对所述采样时钟信号进行调整。

可选的，所述至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整包括：按照多个不同的驱动强度对所述采样时钟信号和/或所述输入输出数据进行调整；在每一驱动强度下，按照多个不同延时对所述采样时钟信号进行调整。

可选的，所述将采样到的数据与预设数据进行比较，并输出比较结果包括：如果所述采样到的数据与所述预设数据一致，则输出所述采样到的数据，并形成眼图；如果所述采样到的数据与所述预设数据不一致，则反馈失败。

可选的，所述至少按照多个不同延时对采样时钟信号进行调整之前还包括：按照标准协议配置所述采样时钟信号的时钟频率。