[发明专利]继电器加速贮存退化实验参数测试分析系统及测试方法

权利要求书

1.一种继电器贮存退化实验参数测试分析系统，其特征在于，包括以下设备：电磁继电器贮存退化实验环境模拟环境实验箱、负载箱、电磁继电器贮存退化参数测控箱、下位机、上位机、PC机，所述下位机与电磁继电器贮存退化实验环境模拟环境实验箱、电磁继电器贮存退化参数测控箱相连，所述上位机一端连接下位机另一端连接到PC机。

2.一种继电器贮存退化实验参数测试分析方法，其特征在于，使用如权利要求1所述的继电器贮存退化实验参数测试分析系统，具体步骤如下：

步骤一：将实验继电器置于继电器加速贮存退化实验环境模拟实验箱中，下位机及PC机中设置加速贮存实验所需的温度和湿度，并设定测试次数；

步骤二：将采集的数据发送到上位机中；

步骤三：利用上位机软件算法计算各个电磁继电器参数并进行存储；

步骤四：将电磁继电器贮存参数的数据储存在文本文档中；

步骤五：上位机根据设定的测试时间间隔定时运行下位机，如果达到设定的测试次数，显示本周期测试完成；

步骤六：用上位机中MATLAB软件调用文本文档，用回归分析的方法作出各个参数的变化规律，利用多维变量主元分析、距离判别分析等方法确定通用电磁继电器的贮存失效模式及失效机理，并用分布类型参数估计及可靠性指标计算等方法评估电磁继电器的贮存可靠性及贮存寿命。