[发明专利]机床的误差测量方法以及机床

权利要求书

1.一种机床的误差测量方法，在机床中，对误差进行测量，所述机床具有2轴以上的平移轴、能够保持被加工物的工作台以及能够保持刀具的主轴箱，保持于所述主轴箱的刀具能够通过所述平移轴而相对于被加工物进行2个平移自由度以上的相对运动，其特征在于，

所述机床的误差测量方法执行如下步骤：

误差值取得步骤，将具有多个目标的主工件设置于所述工作台，使用安装于所述主轴箱的传感器来检测各所述目标的位置，由此分别取得与各所述目标的位置相关的测量值，使用所取得的各所述测量值和预先取得的与各所述目标的位置相关的校正值，分别取得与各所述目标的位置相关的误差值；

干扰指标值计算步骤，针对各所述目标，计算表示测量的干扰程度的至少一个干扰指标值；以及

阈值判定步骤，判定所述干扰指标值是否超过预先设定的阈值。

2.一种机床的误差测量方法，在机床中，对误差进行测量，所述机床具有2轴以上的平移轴、1轴以上的旋转轴或与所述平移轴不同的平移轴、能够保持被加工物的工作台以及能够保持刀具的主轴箱，保持于所述主轴箱的刀具能够通过所述2轴以上的平移轴而相对于被加工物进行2个平移自由度以上的相对运动，其特征在于，

所述机床的误差测量方法执行如下步骤：

误差值取得步骤，将目标设置于所述工作台，在多个条件下对所述2轴以上的平移轴、以及所述旋转轴或所述不同的平移轴进行定位，使用安装于所述主轴箱的传感器来检测所述目标的位置，由此针对各定位条件分别取得与所述目标的位置相关的测量值，并根据所取得的各所述测量值分别取得与所述目标的位置相关的误差值；

干扰指标值计算步骤，针对各所述定位条件，计算表示测量的干扰程度的至少一个干扰指标值；以及

阈值判定步骤，判定所述干扰指标值是否超过预先设定的阈值。

3.根据权利要求1所述的机床的误差测量方法，其特征在于，

根据多个所述误差值和窗函数来计算所述干扰指标值中的至少一个。

4.根据权利要求3所述的机床的误差测量方法，其特征在于，

根据一个所述误差值与通过所述窗函数使多个所述误差值平滑化而得到的值的差来计算所述干扰指标值中的至少一个。

5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的机床的误差测量方法，其特征在于，

在所述阈值判定步骤中，在至少一个所述干扰指标值超过阈值的情况下，针对已经取得所述误差值的所述目标或所述定位条件，再次执行所述误差值取得步骤。

6.根据权利要求5所述的机床的误差测量方法，其特征在于，

在针对所述目标或所述定位条件的所述误差值取得步骤的执行次数超过规定次数的情况下，不再次执行所述误差值取得步骤。

7.根据权利要求1所述的机床的误差测量方法，其特征在于，

在所述阈值判定步骤中，在至少一个所述干扰指标值超过了阈值的情况下，通知该情况。

8.一种机床，其具有2轴以上的平移轴、能够保持被加工物的工作台以及能够保持刀具的主轴箱，保持于所述主轴箱的刀具能够通过所述平移轴而相对于被加工物进行2个平移自由度以上的相对运动，其特征在于，

该机床具有：

误差值取得单元，其在将具有多个目标的主工件设置于所述工作台的状态下，使用安装于所述主轴箱的传感器来检测各所述目标的位置，由此分别取得与各所述目标的位置相关的测量值，使用所取得的各所述测量值和预先取得的与各所述目标的位置相关的校正值，分别取得与各所述目标的位置相关的误差值；

干扰指标值计算单元，其针对各所述目标，计算表示测量的干扰程度的至少一个干扰指标值；以及

阈值判定单元，其判定所述干扰指标值是否超过预先设定的阈值。

9.一种机床，其具有2轴以上的平移轴、1轴以上的旋转轴或与所述平移轴不同的平移轴、能够保持被加工物的工作台以及能够保持刀具的主轴箱，保持于所述主轴箱的刀具能够通过所述2轴以上的平移轴而相对于被加工物进行2个平移自由度以上的相对运动，其特征在于，

所述机床具有：

误差值取得单元，其在将目标设置于所述工作台的状态下，在多个条件下对所述2轴以上的平移轴、以及所述旋转轴或所述不同的平移轴进行定位，使用安装于所述主轴箱的传感器来检测所述目标的位置，由此针对各定位条件分别取得与所述目标的位置相关的测量值，并根据所取得的各所述测量值分别取得与所述目标的位置相关的误差值；

干扰指标值计算单元，其针对各所述定位条件，计算表示测量的干扰程度的至少一个干扰指标值；以及

阈值判定单元，其判定所述干扰指标值是否超过预先设定的阈值。