[发明专利]一种触发式在机测量的精度校准方法及系统

权利要求书

1.一种触发式在机测量的精度校准方法，其特征在于，包括：

生成标准件模型；

在所述标准件模型上规划测量路径；

驱动在机测量系统根据规划的测量路径对标准件进行在机测量；

对测量结果进行分析并判断测量精度是否满足要求；

当测量精度不满足要求时，对测量系统进行误差补偿；

所述对测量结果进行分析并判断测量精度是否满足要求，具体包括：

当利用标准环规校准时，根据测量结果拟合环规上端面和内环面，通过计算端面的Z值偏差和内径的各向偏差r_angle以及平均直径偏差D_平均，将上述偏差值与精度要求Delta比较，判断是否满足精度要求；

当利用标准球校准时，根据测量数据拟合出一个球，计算拟合球心和理论标准球的球心之间的偏差Δ_center、平均半径偏差D_平均，将上述偏差值与精度要求Delta比较，判断是否满足精度要求；

所述当测量精度不满足要求时，对测量系统进行误差补偿，具体包括：

当D_平均＝1.5*Delta，根据测量结果和标准件模型计算空间各个方向上的偏差值，生成各个刀轴进给方向上的补偿值构成补偿表，并在对工件的在机测量中使用该补偿表进行精度补偿；

当D_平均1.5*Delta，调整进给率F，在多个进给率F下完成测量，生成进给率F与测量结果的相关曲线，并根据曲线选择合适的进给率，满足D_平均＝1.5*Delta。

2.如权利要求1所述的触发式在机测量的精度校准方法，其特征在于，所述生成标准件模型，具体包括：根据标准环规或标准球参数生成标准件模型。

3.如权利要求1所述的触发式在机测量的精度校准方法，其特征在于，在所述标准件模型上规划测量路径，具体包括：根据测头半径和标定的测量进给率在所述标准件模型上规划测量路径。

4.一种触发式在机测量的精度校准系统，其特征在于，包括：

模型生成模组，用于生成标准件模型；

测量路径规划模块，用于在所述标准件模型上规划测量路径；

测量模块，用于驱动在机测量系统根据规划的测量路径对标准件进行在机测量；

测量结果分析模块，用于对测量结果进行分析并判断测量精度是否满足要求；

误差补偿模块，用于当测量精度不满足要求时，对测量系统进行误差补偿；

所述对测量结果进行分析并判断测量精度是否满足要求，具体包括：

当利用标准环规校准时，根据测量结果拟合环规上端面和内环面，通过计算端面的Z值偏差和内径的各向偏差r_angle以及平均直径偏差D_平均，将上述偏差值与精度要求Delta比较，判断是否满足精度要求；

当利用标准球校准时，根据测量数据拟合出一个球，计算拟合球心和理论标准球的球心之间的偏差Δ_center、平均半径偏差D_平均，将上述偏差值与精度要求Delta比较，判断是否满足精度要求；

所述当测量精度不满足要求时，对测量系统进行误差补偿，具体包括：

当D_平均＝1.5*Delta，根据测量结果和标准件模型计算空间各个方向上的偏差值，生成各个刀轴进给方向上的补偿值构成补偿表，并在对工件的在机测量中使用该补偿表进行精度补偿；

当D_平均1.5*Delta，调整进给率F，在多个进给率F下完成测量，生成进给率F与测量结果的相关曲线，并根据曲线选择合适的进给率，满足D_平均＝1.5*Delta。

5.如权利要求4所述的触发式在机测量的精度校准系统，其特征在于，所述生成标准件模型，具体包括：根据标准环规或标准球参数生成标准件模型。

6.如权利要求4所述的触发式在机测量的精度校准系统，其特征在于，在所述标准件模型上规划测量路径，具体包括：根据测头半径和标定的测量进给率在所述标准件模型上规划测量路径。