[发明专利]显示基板及其制备方法、显示面板、显示装置

说明书

本申请提供一种显示基板及其制备方法、显示面板、显示装置。所述显示基板包括显示区及弯折区。所述制备方法包括：形成多个间隔排布的信号线及与所述信号线一一对应的测试电极，所述信号线由所述显示区延伸至所述弯折区，所述信号线与对应的所述测试电极电连接；对于任相邻的两个信号线，采用电学特性检测仪对该相邻的两个信号线对应的测试电极之间施加电压，并获取所述电学特性检测仪检测到的电参数；根据相邻的两个信号线对应的所述电参数判断在该相邻的两个信号线之间是否存在金属残留；若任相邻的两个信号线之间均不存在金属残留，在所述显示区形成发光层。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别涉及一种显示基板及其制备方法、显示面板、显示装置。

背景技术

OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)具有宽视角、响应快、对比度高等优点，已经被普遍应用在显示设备中。

在制备过程中，OLED显示设备的位于显示区与绑定区之间的弯折区内可能会出现金属残留，残留的金属会使得相邻的信号线短路，进而导致显示面板显示的画面异常的情况。

发明内容

根据本申请实施例的第一方面，提供了一种显示基板的制备方法。所述显示基板包括显示区及弯折区；所述制备方法包括：

形成多个间隔排布的信号线及与所述信号线一一对应的测试电极，所述信号线由所述显示区延伸至所述弯折区，所述信号线与对应的所述测试电极电连接；

对于任相邻的两个信号线，采用电学特性检测仪对该相邻的两个信号线对应的测试电极之间施加电压，并获取所述电学特性检测仪检测到的电参数；

根据相邻的两个信号线对应的所述电参数判断在该相邻的两个信号线之间是否存在金属残留；

若任相邻的两个信号线之间均不存在金属残留，在所述显示区形成发光层。

在一个实施例中，所述电参数为电阻值，所述根据相邻的两个信号线对应的所述电参数判断在该相邻的两个信号线之间是否存在金属残留，包括：

若相邻的两个信号线对应的所述电阻值小于第一预设阈值，则确定该相邻的两个信号线之间存在金属残留；

若相邻的两个信号线对应的所述电阻值大于或等于所述第一预设阈值，则确定该相邻的两个信号线之间不存在金属残留；

或者，

所述电参数为电流值，所述根据相邻的两个信号线对应的所述电参数判断在该相邻的两个信号线之间是否存在金属残留，包括：

若相邻的两个信号线对应的所述电流值大于第二预设阈值，则确定该相邻的两个信号线之间存在金属残留；

若相邻的两个信号线对应的所述电流值小于或等于所述第二预设阈值，则确定该相邻的两个信号线之间不存在金属残留。

在一个实施例中，所述测试电极及所述信号线在一次构图工艺中完成；和/或，

所述信号线为数据线。

在一个实施例中，所述形成多个间隔排布的信号线及与所述信号线一一对应的测试电极之前，所述制备方法还包括：

形成叠加设置的多个膜层，所述多个膜层位于所述显示区及所述弯折区；

对所述多个膜层进行刻蚀，以在所述弯折区形成凹陷部。

在一个实施例中，所述信号线的端部包括两个分支结构，其中一个所述分支结构与对应的所述测试电极电连接，另一个所述分支结构用于与芯片电连接；和/或，

所述测试电极的面积范围为36100μm²～44100μm²。