[发明专利]电缆绝缘材料的耐压测试方法及装置

权利要求书

1.一种电缆绝缘材料的耐压测试方法，其特征在于，包括：

获取待测电缆的绝缘材料样本在预设时间范围内采集的工频击穿场强，得到第一击穿场强序列，其中，所述第一击穿场强序列中的击穿场强为在所述预设时间范围内的各个采集时刻所采集的工频击穿场强；

获取所述待测电缆的绝缘材料样本在所述预设时间范围内采集的超低频击穿场强，得到第二击穿场强序列，其中，所述第二击穿场强序列中的击穿场强为在所述预设时间范围内的各个采集时刻所采集的超低频击穿场强；

基于所述第一击穿场强序列中的工频击穿场强确定所述绝缘材料样本的第一检测结果，所述第一检测结果用于指示所述绝缘材料样本是否通过工频耐压检测；

基于所述第一检测结果确定所述绝缘材料样本的第二检测结果，所述第二检测结果用于指示所述绝缘材料样本是否通过超低频耐压检测；

确定所述第一击穿场强序列和所述第二击穿场强序列之间的相关性，并基于所述相关性确定所述第二检测结果是否有效。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

确定所述第一击穿场强序列和所述第二击穿场强序列之间的相关性，包括：计算所述第一击穿场强序列和所述第二击穿场强序列之间的皮尔逊相关系数；根据所述皮尔逊相关系数进行假设检验确定显著水平P值，比较所述显著水平P值与第一阈值；

基于所述相关性确定所述第二检测结果是否有效，包括：在所述显著水平P值小于所述第一阈值且所述皮尔逊相关系数大于第二阈值时，确定所述第二检测结果有效。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述显著水平P值小于所述第一阈值的情况下，所述皮尔逊相关系数越大，所述第一击穿场强序列和所述第二击穿场强序列之间的相关性越强。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一击穿场强序列和所述第二击穿场强序列中的击穿场强均是将所述绝缘材料样本浸泡在同一类绝缘液中进行测试得到的，且所述绝缘液的介电常数大于空气的介电常数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

获取待测电缆的绝缘材料样本在预设时间范围内采集的工频击穿场强，包括：在每个采集时刻对所述绝缘材料样本中的预设数量个击穿点进行工频击穿测试，得到第一组击穿电压，基于所述第一组击穿电压确定第一韦布尔分布失效概率，并基于所述第一韦布尔分布失效概率确定本次击穿测试的工频击穿场强；

获取所述待测电缆的绝缘材料样本在所述预设时间范围内采集的超低频击穿场强，包括：在所述每个采集时刻对所述绝缘材料样本中的预设数量个击穿点进行超低频击穿测试，得到第二组击穿电压，基于所述第二组击穿电压确定第二韦布尔分布失效概率，并基于所述第二韦布尔分布失效概率确定本次击穿测试的超低频击穿场强。

6.根据权利要求1至5中任意一项所述的方法，其特征在于，所述绝缘材料样本包括：所述待测电缆的电缆本体和所述待测电缆的接头。

7.一种电缆绝缘材料的耐压测试装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取待测电缆的绝缘材料样本在预设时间范围内采集的工频击穿场强，得到第一击穿场强序列，其中，该第一击穿场强序列中的击穿场强为在预设时间范围内的各个采集时刻所采集的工频击穿场强；

第二获取模块，用于获取所述待测电缆的绝缘材料样本在所述预设时间范围内采集的超低频击穿场强，得到第二击穿场强序列，其中，该第二击穿场强序列中的击穿场强为在预设时间范围内的各个采集时刻所采集的超低频击穿场强；

第一确定模块，用于基于所述第一击穿场强序列中的工频击穿场强确定所述绝缘材料样本的第一检测结果，该第一检测结果用于指示所述绝缘材料样本是否通过工频耐压检测；

第二确定模块，用于基于所述第一检测结果确定所述绝缘材料样本的第二检测结果，所述第二检测结果用于指示所述绝缘材料样本是否通过超低频耐压检测；

检测模块，用于确定所述第一击穿场强序列和所述第二击穿场强序列之间的相关性，并基于所述相关性确定所述第二检测结果是否有效。