[发明专利]一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法

说明书

本发明公开了一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，使用摄像头监控VAD法沉积过程，获取沉积过程中疏松体直径的实时趋势数据，获得包芯比、△、△‑的波动数据，调控沉积原料、锗及四氟化碳流量。本发明提供的提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，使用两种控制方案，一是根据系统给定目标，二是根据实际测试值，控制器系统实时接收包芯比、△、△‑参数波动数据并处理，实时调控气体流量，使得沉积过程中工艺参数得到更为精准的控制，在连续生产过程中，系统在大数据的作用下将实现每根芯棒数据的往复“训练”与“验证”，各沉积机台之间的数据共享使用、共同优化，提高工作效率和准确性，实现光纤预制棒参数的均匀、准确控制。

技术领域

本发明属于光纤预制棒制造技术领域，具体涉及一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法。

背景技术

中国发明专利，公开号CN105347667B，公开了一种光纤预制棒光学参数稳定性控制方法及其设备，通过优化沉积腔体的进排风改善光纤预制棒的参数稳定性，但无法得知沉积过程中参数均匀性是否发生变化，且无法实时进行调整参数改善均匀性。

当前，制造光纤预制棒的方法有VAD、OVD、MCVD、PCVD，其中，VAD法以沉积效率高、低成本等优势获得很多制造厂商的青睐。VAD法制造光纤预制棒，棒中参数存在波动，一般通过参数分段去优化棒中参数的均匀性(如亨通、富通、康宁、中天、长飞等主流公司)。控制光纤预制棒的参数均匀性是通过技术工程师等待测试结果，一般需要24h或者更多时间，根据测试结果再去调整沉积工艺参数，且调整的参数是否到位无法立即得知，同样需要等待测试结果。由于存在长时间的滞后性和对技术人员的依赖性，比如夜班或节假日就没有技术人员调整参数，但生产线仍然保持着常规运转，因此在批量生产时，很容易带来批量芯棒参数不均匀，而光纤的核心是光纤预制棒，因此芯棒参数不均匀将导致光纤产品出现截止波长、零色散、衰减等异常，不仅存在很大的质量隐患，且容易引起客户端抱怨，尤其是制造光缆的成品或埋入地下的产品，造成的损失无法估量。

由于腔体温度较高，摄像头工作时需要考虑到隔热防护，避免摄像头长时间处于高温下导致获取的数据失真。

发明内容

为解决现有技术中存在的技术问题，本发明的目的在于提供一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法。

为实现上述目的，达到上述技术效果，本发明采用的技术方案为：

一种提高光纤预制棒参数均匀性的控制方法，包括以下步骤：

通过VAD法生产光纤预制棒，使用摄像头监控VAD法沉积过程并上传至控制器系统，获取沉积过程中疏松体直径的实时趋势数据，获得包芯比波动数据，沉积原料流量根据包芯比波动数据进行调节；

控制器系统反馈包芯比偏离给定目标，调整疏松体长度；此时若包层直径和芯层直径出现同步波动，对沉积原料流量进行调整；

控制器系统反馈△波动数据，并根据△波动数据调整锗流量；此时若芯层直径出现波动，需同步调整锗流量；

控制器系统反馈△-波动数据，并根据△-波动数据调整四氟化碳流量。

进一步的，所述沉积原料流量根据包芯比波动数据进行调节的步骤包括：

包芯比给定目标发生变化，该变化由工程师根据客户需求发起，工程师确认更新包芯比给定目标并上传至控制器系统，若疏松体生产长度小于100mm，根据上一根疏松体包芯比大小立即进行反馈，调整沉积原料流量，若疏松体生产长度大于100mm，对下一根疏松体进行反馈，调整沉积原料流量。

进一步的，包芯比波动大小为0-0.1时，沉积原料流量调整大小为0.3L；包芯比波动大小为0.1-0.2时，沉积原料流量调整大小为0.6L；包芯比波动大小为0.2-0.3时，沉积原料流量调整大小为1.0L；包芯比波动大小大于0.3时，沉积原料流量进行手动调整。