[发明专利]一种集成电路测试数据分析方法及系统

权利要求书

1.一种集成电路测试数据分析方法，其特征在于，包括：

测试机解析被测试的第一集成电路的第一测试数据，将解析后的第一测试数据发送给分析数据库；

所述分析数据库接收、存储解析后的第一测试数据；

分析设备从所述分析数据库中抓取第一测试数据，计算所述被测试的第一集成电路的性能参数；

分析设备从所述分析数据库中抓取基准测试数据，计算基准性能参数，所述基准测试数据为所述第一测试数据之前的m批测试数据，所述m批测试数据依次相邻，且所述m批测试数据中有一批测试数据与所述第一测试数据相邻，m为正整数；

分析设备根据被测试的第一集成电路的性能参数、基准性能参数确定第一集成电路是否为良品。

2.根据权利要求1所述集成电路测试数据分析方法，其特征在于，所述分析设备从所述分析数据库中抓取第一测试数据，计算所述被测试的第一集成电路的性能参数，包括：

分析设备从所述分析数据库中抓取所述第一测试数据对应的第一集成电路的产品型号、站别信息，计算第一集成电路的良率、BIN别信息；

所述分析设备从所述分析数据库中抓取基准测试数据，计算基准性能参数，包括：

所述分析设备根据所述第一集成电路的产品型号、站别信息，从所述分析数据库中抓取基准测试数据，计算基准良率和基准BIN别信息。

3.根据权利要求2所述集成电路测试数据分析方法，其特征在于，所述分析设备根据被测试的第一集成电路的性能参数、基准性能参数确定第一集成电路是否为良品，包括：

所述分析设备比较所述第一集成电路的良率与基准良率，如果所述第一集成电路的良率小于基准良率，所述第一集成电路为不良品；

所述分析设备比较所述第一集成电路的BIN别信息与基准BIN别信息，如果所述第一集成电路的BIN别信息大于基准BIN别信息，所述第一集成电路为不良品；

如果所述第一集成电路的良率大于基准良率，所述第一集成电路的BIN别信息小于基准BIN别信息，所述第一集成电路测试通过。

4.根据权利要求1-3任一项所述集成电路测试数据分析方法，其特征在于，还包括：

如果所述第一集成电路为不良品，所述分析设备向触发报警装置发出报警信息。

5.根据权利要求4所述集成电路测试数据分析方法，其特征在于，所述触发报警装置收到报警信息后，通过三色灯闪烁及蜂鸣器报警。

6.一种集成电路测试数据分析系统，其特征在于，包括：

测试机，用于解析被测试的第一集成电路的第一测试数据，将解析后的第一测试数据发送给分析数据库；

分析数据库，用于接收、存储解析后的第一测试数据；

分析设备，用于从所述分析数据库中抓取第一测试数据，计算所述被测试的第一集成电路的性能参数；

所述分析设备还用于：从所述分析数据库中抓取基准测试数据，计算基准性能参数，所述基准测试数据为所述第一测试数据之前的m批测试数据，所述m批测试数据依次相邻，且所述m批测试数据中有一批测试数据与所述第一测试数据相邻，m为正整数；

所述分析设备还用于：根据被测试的第一集成电路的性能参数、基准性能参数确定第一集成电路是否为良品。

7.根据权利要求6所述集成电路测试数据分析系统，其特征在于，所述分析设备用于：

从所述分析数据库中抓取所述第一测试数据对应的第一集成电路的产品型号、站别信息，计算第一集成电路的良率、BIN别信息；

根据所述第一集成电路的产品型号、站别信息，从所述分析数据库中抓取基准测试数据，计算基准良率和基准BIN别信息。