[发明专利]一种键盘检测方法、系统、电子设备及介质

权利要求书

1.一种键盘检测方法，其特征在于，包括：

获取一键盘图像，并根据所述键盘图像确定各个键帽的键帽图像；

根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版；

获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像；

将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格。

2.根据权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版的步骤包括：

通过对所述键盘图像及各个的所述键帽图像进行二值化处理，分别获取所述键盘模版和所述键帽模版。

3.根据权利要求1或者2所述的键盘检测方法，其特征在于，所述键帽模版包括对应键帽的承载信息，所述承载信息至少包括以下之一：数字、字母、符号、标识、位置坐标。

4.根据权利要求3所述的键盘检测方法，其特征在于，获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像的步骤包括：

采集待测键盘图像，获取各个待测键帽的待测键帽图像；

通过调整二值化阈值对所述待测键帽图像进行二值化处理，确定所述待测键帽图像的验证信息，所述验证信息至少包括以下之一：数字、字母、符号、标识、位置坐标。

5.根据权利要求4所述的键盘检测方法，其特征在于，将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格的步骤包括：

将所述验证信息与所述承载信息进行对比，获取相似度；

将所述相似度与预设的相识度阈值进行对比，进而确定所述待测键帽是否合格。

6.根据权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格的步骤之前，还包括：

在所述键盘图像及所述待测键盘图像上设定标记点，所述标记点包括以下至少之一：一键盘或一待测键盘中第一行的第一个键帽、所述键盘或者所述待测键盘中第一行的最后一个键帽、所述键盘或者所述待测键盘中最后一行的第一个键帽、所述键盘或者所述待测键盘中最后一行的最后一个键帽；

对所述待测键盘图像进行归一化处理，通过所述标记点将归一化处理后的待测键盘图像与所述键盘模版进行对应。

7.根据权利要求1所述的键盘检测方法，其特征在于，将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格的步骤之后还包括：

当各个所述待测键帽均合格之后，判定该待测键盘为合格；

当一待测键帽不合格时，输出对应的所述待测键帽图像及对应的所述待测键帽的位置坐标。

8.一种键盘检测系统，其特征在于，包括：

模板模版，用于获取一键盘图像，并根据所述键盘图像确定各个键帽的键帽图像，根据所述键盘图像及各个的所述键帽图像分别确定键盘模版和键帽模版；

采集模块，用于获取一待测键盘图像，并根据所述待测键盘图像确定各个待测键帽的待测键帽图像；

对比模块，用于将所述待测键帽图像与所述键帽模版进行对比，确定待测键帽是否合格，或者，将所述待测键盘图像与所述键盘模版进行对比，确定待测键盘是否合格。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；和

其上存储有指令的一个或多个机器可读介质，当所述一个或多个处理器执行时，使得所述设备执行如权利要求1-7中一个或多个所述的方法。

10.一个或多个机器可读介质，其特征在于，其上存储有指令，当由一个或多个处理器执行时，使得设备执行如权利要求1-7中一个或多个所述的方法。