[发明专利]用于测试模数转换器的系统和方法在审

专利信息
申请号: 202011333216.1 申请日: 2020-11-25
公开(公告)号: CN112152623A 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 纪效礼;罗伟绍 申请(专利权)人: 杭州晶华微电子有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 310052 浙江省杭州市滨江区*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 用于 测试 转换器 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测试模数转换器的系统,包括:

信号发生器,用于产生具有第一预设值的第一测试信号,所述第一测试信号为直流信号;

测量单元,用于测量所述第一测试信号,以获得第一测量值;以及

计算设备,与所述信号发生器和所述测量单元连接,所述计算设备包括:至少一个处理单元和至少一个存储器,所述至少一个存储器被耦合到所述至少一个处理单元并且存储用于由所述至少一个处理单元执行的指令,所述指令当由所述至少一个处理单元执行时使得所述计算设备用于:

确定所述第一测量值与所述第一预设值是否匹配;

响应于确定所述第一测量值与所述第一预设值不匹配,通过所述信号发生器来产生具有第二预设值的第二测试信号,所述第二预设值不同于所述第一预设值;

响应于确定所述第一测量值与所述第一预设值匹配,获取来自所述模数转换器的测试结果,所述测试结果包括由所述模数转换器转换所述第一测试信号而产生的第一数字信号;以及

基于所述第一测试信号和所述第一数字信号来确定所述模数转换器的测试参数。

2.根据权利要求1所述的系统,其中所述信号发生器还用于产生第二测试信号,所述第二测试信号为交流信号;

所述测量单元还用于测量所述第二测试信号,以获得多个第二测量值;

其中所述测试结果还包括由所述模数转换器转换所述第二测试信号而产生的第二数字信号,并且所述计算设备还用于:

基于所述第二测试信号、针对所述第二测试信号的传递函数以及所述第二数字信号来确定所述模数转换器的测试参数,其中针对所述第二测试信号的传递函数是基于由所述信号发生器产生的第三测试信号和由所述测量单元测量所述第三测试信号而获得的多个第三测量值来确定的。

3.根据权利要求1或2所述的系统,还包括:

系统控制器,与所述计算设备连接并且包括FPGA设备和存储器,所述FPGA设备包括用于并行测试多个模数转换器的多个并行处理单元,每一个并行处理单元用于测试所述多个模数转换器中的一个模数转换器,所述存储器用于存储来自所述多个模数转换器的测试结果。

4.根据权利要求1或2所述的系统,其中所述模数转换器被集成在数模混合型SOC中,所述系统还包括:

外部存储器,位于所述数模混合型SOC之外、与所述数模混合型SOC连接,用于存储所述模数转换器的多个测试项目的参数配置列表,所述参数配置列表包括用于修改所述数模混合型SOC中的寄存器的值的参数。

5.根据权利要求1或2所述的系统,其中所述信号发生器具有14-16位分辨率,并且所述测量单元为至少6位半数字万用表。

6.根据权利要求1或2所述的系统,其中所述模数转换器为24位精度模数转换器。

7.根据权利要求1或2所述的系统,还包括温箱,所述温箱至少用于容纳所述模数转换器,所述温箱与所述计算设备连接并且被配置为基于来自所述计算设备的指令来设置所述温箱内的温度。

8.一种用于测试模数转换器的方法,包括:

通过信号发生器来产生具有第一预设值的第一测试信号,所述第一测试信号为直流信号;

通过测量单元来测量所述第一测试信号,以获得第一测量值;

确定所述第一测量值与所述第一预设值是否匹配;

响应于确定所述第一测量值与所述第一预设值不匹配,通过所述信号发生器来产生具有第二预设值的第二测试信号,所述第二预设值不同于所述第一预设值;

响应于确定所述第一测量值与所述第一预设值匹配,获取来自所述模数转换器的测试结果,所述测试结果包括由所述模数转换器转换所述第一测试信号而产生的第一数字信号;以及

基于所述第一测试信号和所述第一数字信号来确定所述模数转换器的测试参数。

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