[发明专利]一种Sercon质谱离子源加热器在审
申请号: | 202011334490.0 | 申请日: | 2020-11-24 |
公开(公告)号: | CN112397371A | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 朱同彬;王华;杨霖;文冬妮 | 申请(专利权)人: | 中国地质科学院岩溶地质研究所 |
主分类号: | H01J49/00 | 分类号: | H01J49/00;H01J49/10 |
代理公司: | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人: | 符继超 |
地址: | 541004 广*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 sercon 离子源 加热器 | ||
本发明公开了一种Sercon质谱离子源加热器,包括:温度控制装置、热电偶和加热炉;温度控制装置分别与市电和加热炉电性连接;加热炉可拆卸地套设于离子源的外周侧,并与离子源的外壁接触;热电偶插设在加热炉和离子源外壁之间,并与温度控制装置电性连接。本发明通过将加热炉直接套于离子源的外壁,并通过温度控制器设置所需温度,并利用加热炉对离子源进行设定温度下的烘烤,操作简单,且能够有效去除离子源中的污染物。
技术领域
本发明涉及离子源技术领域,更具体的说是涉及一种Sercon质谱离子源加热器。
背景技术
Sercon质谱仪在测试碳氮同位素过程中,由于样品类型不同,样品所含的杂质会累积于离子源内壁中,长期测定会污染离子源而导致碳氮背景值较高,仪器稳定性较差,进而干扰样品C、N同位素的测定,容易对测试结果造成较大误差,使测试结果不准确。当仪器发生此类现象时,需要对离子源进行清洗,去除附着于离子源的杂质。而Sercon质谱仪并没有设置自动清除离子源杂质的模式或相关功能。
目前,针对Sercon质谱仪离子源污染问题,一般采用的维修和维护办法为:
1、由厂家仪器工程师到现场,拆开离子源,将灯丝小心取出,用酒精擦拭离子源,然后再小心装回去,连续抽真空48小时以上。
该维护方法的优点为:使离子源灯丝清洗非常干净。缺点为:必须由厂家仪器工程师亲自到现场操作,且在操作过程中容易将灯丝损坏,并且此过程若安装不到位,易导致离子源气密性不足,真空度不能有效被保持,同时维修维护成本较高,从联系工程师到维修完成时间较长。
2、人工采用高温热风枪烘烤离子源。整个过程中,需人工操作手握热风枪高温烘烤,热风枪要来回围着离子源旋转烘烤,约烘烤半小时(时间过长热风枪发烫),停10分钟,让热风枪降温后,反复操作此过程,整个过程需要4~5天。
该维护方法的优点为:不用厂家仪器工程师到现场,也不用拆开离子源,由实验人员自己操作,可以降低维修成本。其缺点为:有时烘烤不彻底,离子源中的污染物并不能得到有效清除,且实验人员要长时间手握热风枪操作。人工强度比较大、时间比较长。
因此,如何提供一种操作简单,能够自动控制温度,且能有效去除离子源中的污染物的Sercon质谱离子源加热器是本领域技术人员亟需解决的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明提供了一种Sercon质谱离子源加热器,通过将加热炉直接套于离子源的外壁,并通过温度控制器设置所需温度,并利用加热炉对离子源进行设定温度下的烘烤,操作简单,且能够有效去除离子源中的污染物。
为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种Sercon质谱离子源加热器,包括:温度控制装置、热电偶和加热炉;所述温度控制装置分别与市电和所述加热炉电性连接;所述加热炉可拆卸地套设于所述离子源的外周侧,并与所述离子源的外壁接触;所述热电偶插设在所述加热炉和所述离子源外壁之间,并与所述温度控制装置电性连接。
经由上述的技术方案可知,与现有技术相比,本发明通过将加热炉直接套于离子源的外壁,并通过温度控制器设置所需温度,并利用加热炉对离子源进行设定温度下的烘烤。具有使用方便、操作简单和去污染物时间短的特性,且能够有效去除离子源中的污染物。
优选的,在上述一种Sercon质谱离子源加热器中,所述温度控制装置包括温控器、电源开关和固态继电器;所述温控器分别与所述电源开关、固态继电器和所述热电偶电性连接;所述电源开关通过线束与所述加热炉电性连接;所述固态继电器通过线束与所述加热炉电性连接。
优选的,在上述一种Sercon质谱离子源加热器中,所述线束的其中一端具有接线柱;所述接线柱与所述加热炉可插拔连接。
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