[发明专利]圆环内外径拟合方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供一种圆环内外径拟合方法、装置、电子设备及存储介质，涉及图像处理技术领域。所述方法包括：从圆环图像中确定圆环的边界；基于所述边界对所述圆环的内外径的点进行水平采样、竖直采样和放射采样中的至少一种采样，获得采样结果；基于所述采样结果进行圆的拟合，将所述圆的拟合的结果作为所述圆环的内外径拟合的拟合结果。该方法通过水平采样、竖直采样和/或放射采样进行数据点的离散采样，鲁棒性和抗干扰能力得到很大提升，然后根据采样结果进行融合样本点集的内外径拟合，且数据点集更符合实际的数据分布，拟合效率和精度更高。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，具体而言，涉及一种圆环内外径拟合方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

现有的零件圆的拟合方法往往通过霍夫变换进行圆的检测，霍夫变换具有较强的抗干扰能力，但是面对较复杂工件时检测稳定性仍然不够，比如毛坯钢管件。并且霍夫变换会检测需要调试参数较多，面对较复杂场景时需要反复调试多个参数过滤非目标结果，而且很多时候会把目标圆一起过滤掉。

因此现有零件圆的拟合方法面对复杂环境时抗干扰能力不足，且时间复杂度非常大，特别是面对高分辨率的工业图片时。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种圆环内外径拟合方法、装置、电子设备及存储介质，以改善现有技术中存在的面对复杂环境时抗干扰能力不足、面对复杂环境时抗干扰能力不足的问题。

本申请实施例提供了一种圆环内外径拟合方法，所述方法包括：从圆环图像中确定圆环的边界；基于所述边界对所述圆环的内外径的点进行水平采样、竖直采样和放射采样中的至少一种采样，获得采样结果；基于所述采样结果进行圆的拟合，将所述圆的拟合的结果作为所述圆环的内外径拟合的拟合结果。

在上述实现方式中，通过水平采样、竖直采样和/或放射采样进行数据点的离散采样，鲁棒性和抗干扰能力得到很大提升，然后根据采样结果进行融合样本点集的内外径拟合，且数据点集更符合实际的数据分布，需要调试参数较现有技术较少，拟合效率和精度更高。

可选地，在所述从圆环图像中确定圆环的边界之前，所述方法还包括：获取所述圆环的拍摄图像；去除所述拍摄图像中与所述内外径的拟合无关的无关图像部分；在去除所述无关图像部分的所述拍摄图像中截取包含所述圆环的兴趣域图像；对所述兴趣域图像进行预处理，将预处理输出的图像作为所述圆环图像，所述预处理包括滤波、灰度化和二值化中的至少一种。

在上述实现方式中，通过对拍摄图像中与圆环无关的图像部分的去除，以及对兴趣域图像的提取，获取干扰图像更少的圆环图像，能够排除杂物干扰，提高后续拟合精度。

可选地，所述去除所述拍摄图像中与所述内外径的拟合无关的无关图像部分，包括：获取所述拍摄图像的相同拍摄环境下，不存在所述圆环的背景图像；将所述拍摄图像与所述背景图像相减，以去除所述无关图像部分。

在上述实现方式中，通过拍摄图像和背景图像进行简单的减操作去除无关图像部分，降低了计算复杂度，提高了内外径拟合的整体效率。

可选地，所述竖直采样的步骤包括：基于指定水平方向顺序对所述圆环依次进行多次从上边界竖直向下或从下边界竖直向上的竖直点采样，部分竖直点采样与所述圆环的内外径分别重合两次，采样步长随着采样方向和采样点构成的直径方向夹角的减小而由小至大；在每次竖直点采样获得的点的值小于二值化图最大值时，确定所述点采样获得的点为所述圆环外的点；确定每次竖直点采样过程中大于所述二值化图最大值的第一个点和最后一个点为外径点；确定每次竖直点采样过程中小于所述二值化图最大值的第一个点和最后一个点为内径点。

在上述实现方式中，竖直采样的采样过程以及确定内外径点集的计算简单，提高了内外径拟合的效率，同时采样步长随采样方向和采样点构成的直径方向夹角的减小而变化，适应性采样使得到的采样点密度基本一样，使得拟合算法的鲁棒性更高。