[发明专利]编码处理方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202011343013.0 申请日: 2020-11-25
公开(公告)号: CN112153385B 公开(公告)日: 2021-03-02
发明(设计)人: 张宏顺 申请(专利权)人: 腾讯科技(深圳)有限公司
主分类号: H04N19/147 分类号: H04N19/147;H04N19/159;H04N19/139
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强;杜维
地址: 518057 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 编码 处理 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种编码处理方法,其特征在于,包括:

确定对待编码图像中当前编码块进行编码的多个编码模式,以及确定所述多个编码模式中每个编码模式对应的估算参数;

根据所述每个编码模式对应的估算参数对所述多个编码模式进行分组处理;

基于分组处理结果从所述多个编码模式中选择至少一个候选编码模式;

确定所述至少一个候选编码模式中每个候选编码模式对应的模式率失真代价,并选择模式率失真代价满足率失真代价条件的候选编码模式,对所述当前编码块进行编码处理。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,任意一个编码模式对应的估算参数包括所述任意一个编码模式对应的估算失真和所述任意一个编码模式对应的估算残差比特数,所述多个编码模式包括目标编码模式,所述确定所述多个编码模式中每个编码模式对应的估算参数,包括:

采用所述目标编码模式对所述当前编码块进行编码预测,得到所述目标编码模式对应的预测值;

确定所述目标编码模式对应的预测值与所述当前编码块之间的残差,并基于所述残差确定所述目标编码模式对应的估算失真率和所述目标编码模式对应的估算残差比特率;

将所述当前编码块内的像素点总数量与所述目标编码模式对应的估算失真率进行相乘运算,得到所述目标编码模式对应的估算失真;

将所述像素点总数量与所述目标编码模式对应的估算残差比特率进行相乘运算,得到所述目标编码模式对应的估算残差比特数。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述残差确定所述目标编码模式对应的估算失真率和所述目标编码模式对应的估算残差比特率,包括:

获取所述当前编码块的尺寸信息;

将所述当前编码块的尺寸信息以及所述残差输入至均方差计算规则中进行运算,得到所述目标编码模式对应的均方差值;

将所述目标编码模式对应的均方差值输入至估算因子确定规则中进行计算,得到所述目标编码模式对应的估算因子;

基于估算失真率确定规则和所述目标编码模式对应的估算因子,得到所述目标编码模式对应的估算失真率;

基于估算残差比特率确定规则和所述目标编码模式对应的估算因子,得到所述目标编码模式对应的估算残差比特率。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于估算失真率确定规则和所述目标编码模式对应的估算因子,得到所述目标编码模式对应的估算失真率,包括:

对所述估算因子进行修正处理,并获取修正处理后估算因子中的小数部分数值;

根据失真率参数对照表获取估算失真率参数;

将所述小数部分数值和所述估算失真率参数输入至所述估算失真率确定规则中进行运算,得到所述目标编码模式对应的估算失真率。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于估算残差比特率确定规则和所述目标编码模式对应的估算因子,得到所述目标编码模式对应的估算残差比特率,包括:

根据残差比特率参数对照表获取估算残差比特率参数;

将所述小数部分数值和所述估算残差比特率参数输入至所述估算残差比特率确定规则中进行运算,得到所述目标编码模式对应的估算残差比特率。

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,任意一个编码模式对应的估算参数包括所述任意一个编码模式对应的估算失真和所述任意一个编码模式对应的估算残差比特数,所述根据所述每个编码模式对应的估算参数对所述多个编码模式进行分组处理,包括:

分别比较各个编码模式对应的估算失真和各个编码模式对应的估算残差比特数;

针对所述多个编码模式中的任一编码模式,若所述多个编码模式中存在与所述任一编码模式具有相同的估算失真和相同的估算残差比特数的其他编码模式,则将所述任一编码模式与所述其他编码模式组成一个第一类编码模式组;

若不存在与所述任一编码模式具有相同的估算失真和相同的估算残差比特数的其他编码模式,则将所述任一编码模式添加至第二类编码模式组。

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