[发明专利]电容寿命计算方法、系统、介质、终端、电压检测电路及驱动器

说明书

本发明提供一种电容寿命计算方法、系统、介质、终端、电压检测电路及驱动器；所述方法包括以下步骤：获取待计算寿命的目标电容所处的当前环境温度及所述目标电容的当前表面温度；根据所述当前环境温度和所述当前表面温度，计算所述目标电容由纹波电流产生的当前温升；获取所述目标电容两端的当前电压；根据所述当前环境温度、所述当前温升及所述当前电压，计算所述目标电容的当前寿命；本发明能够实现对电容寿命的准确计算，从而在电容失效前对其进行及时维护，防止电容失效引起的着火等故障问题，降低因电容失效造成的损失，提高了电容使用的安全性和可靠性。

技术领域

本发明属于电容技术领域，特别是涉及一种电容寿命计算方法、系统、介质、终端、电压检测电路及驱动器。

背景技术

通常，PCB上有很多的元器件，用户在使用时，都希望该PCB能够正常工作很久，从而减少维修；其中，大部分的元器件工作在一个功耗很低的状态下，能够稳定运行很久，但是，有的元器件就工作在一个会持续发热的状态，所以，其寿命就会受到影响。

驱动器中的母线电容是驱动器整体寿命的短板，如何估算实际工况下，该母线电容的寿命，以在该母线电容失效前及时进行维护，防止因其失效可能引起的着火等现象，成为领域内技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种电容寿命计算方法、系统、介质、终端、电压检测电路及驱动器，用于解决现有技术中无法实现实时获取电容的寿命，导致电容在失效前未能及时进行维护，造成电容因失效而引起故障的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种电容寿命计算方法，包括以下步骤：获取待计算寿命的目标电容所处的当前环境温度及所述目标电容的当前表面温度；根据所述当前环境温度和所述当前表面温度，计算所述目标电容由纹波电流产生的当前温升；获取所述目标电容两端的当前电压；根据所述当前环境温度、所述当前温升及所述当前电压，计算所述目标电容的当前寿命。

于本发明的一实施例中，根据所述当前环境温度和所述当前表面温度，计算所述目标电容由纹波电流产生的当前温升的计算公式为：

ΔT＝(Ts–Tx)×Kc；

其中，ΔT表示所述当前温升；Ts表示所述当前表面温度；Tx表示所述当前环境温度；Kc表示所述目标电容的折算系数。

于本发明的一实施例中，根据所述当前环境温度、所述当前温升及所述当前电压，计算所述目标电容的当前寿命包括以下步骤：根据所述当前环境温度、所述当前温升及所述当前电压，计算所述目标电容对应每一工况下的使用寿命；根据每一所述工况下的工作时间，计算对应每一所述工况下，所述目标电容消耗寿命的百分比；将各所述工况下，所述消耗寿命的百分比累加，获取所述目标电容的总消耗寿命的百分比；根据所述总消耗寿命的百分比，计算所述目标电容的当前寿命。

于本发明的一实施例中，计算所述目标电容对应每一工况下的使用寿命的计算公式为：

其中，Lx表示所述使用寿命；L表示额定寿命；To表示额定温度；Tx表示所述当前环境温度；△To表示所述目标电容的最大允许温升；△T表示所述当前温升；Vo表示所述目标电容的最大允许电压；Vx表示所述当前电压；计算对应每一所述工况下，所述消耗寿命的百分比的计算公式为：

X＝tx/Lx；

其中，X表示所述消耗寿命的百分比；tx表示所述工作时间；Lx表示所述使用寿命；根据所述总消耗寿命的百分比，计算所述目标电容的当前寿命的计算公式为：

W＝(1-Y)×Lx′；

Y＝X₁+X₂+…X_i…+X_n；