[发明专利]一种模式间串扰测量方法和装置在审
申请号: | 202011344940.4 | 申请日: | 2020-11-26 |
公开(公告)号: | CN114553310A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 葛大伟;李允博;张德朝;李晗 | 申请(专利权)人: | 中国移动通信有限公司研究院;中国移动通信集团有限公司 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079;H04J14/04 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;姜精斌 |
地址: | 100053 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 模式 间串扰 测量方法 装置 | ||
1.一种模式间串扰测量装置,其特征在于,包括:
光源模块,所述光源模块与被测分立模式器件的输入端连接,用于提供线偏振光;
获取模块,所述获取模块与被测分立模式器件光连接,用于在光模场所处的像平面上获取光场的光频域波形,所述光模场为在所述线偏振光的作用下,所述被测分立模式器件的少模尾纤端面发出的光场;
处理模块,与所述获取模块连接,用于根据所述光场的光频域波形,获取所述被测分立模式器件的模式间串扰信息。
2.根据权利要求1所述的模式间串扰测量装置,其特征在于,所述光源模块包括:
光源单元,所述光源单元用于发出宽谱连续激光;
起偏器,所述起偏器分别与所述光源单元和被测分立模式器件的输入端连接,用于将所述光源单元发出的宽谱连续激光转换为线偏振光。
3.根据权利要求1所述的模式间串扰测量装置,其特征在于,所述获取模块包括:
模场放大单元,所述模场放大单元与所述被测分立模式器件光连接,用于将所述被测分立模式器件的少模尾纤端面发出的光模场进行放大,其中,所述被测分立模式器件的输出端位于所述模场放大单元的物方焦点;
像平面光场采集单元,用于在放大后的所述光模场所处的像平面上采集光场,其中,所述像平面光场采集单元的单模光纤输入端位于所述模场放大单元的像方焦平面;
光谱仪,所述光谱仪与所述像平面光场采集单元光连接,用于获取所述光场的光频域波形。
4.根据权利要求3所述的模式间串扰测量装置,其特征在于,所述处理模块包括:
检测单元,所述检测单元分别与所述像平面光场采集单元和所述光谱仪连接,用于控制所述像平面光场采集单元采集光场,并根据所述光谱仪获取的光频域波形,获取所述被测分立模式器件的模式间串扰信息。
5.根据权利要求4所述的模式间串扰测量装置,其特征在于,所述光场包括:(2N+1)×(2N+1)个采集点的光场,其中,所述(2N+1)×(2N+1)个采集点的中心采集点的坐标(N,N)是光谱仪上采集到的光功率最大时,所述像平面光场采集单元的单模光纤输入端在所述像方焦平面上的坐标。
6.根据权利要求5所述的模式间串扰测量装置,其特征在于,所述检测单元包括:
第一获取子单元,用于对所述采集点的光频域波形I(x,y,ω)进行傅里叶反变换,得到时域离散点B(x,y,t),其中,x表示采集点的横坐标,y表示采集点的纵坐标,ω表示光频谱波形的频率,t为所述被测分立模式器件的串扰模式与主模式间的时延;
第二获取子单元,用于根据所述时域离散点,获取所述被测分立模式器件的主模式在所述采集点上的模场强度和所述被测分立模式器件激发的串扰模式在所述采集点上的模场强度;
第三获取子单元,用于根据所述主模式在所述采集点上的模场强度和所述串扰模式在所述采集点上的模场强度,获取所述被测分立模式器件的主模式和所述串扰模式之间的模式间串扰信息。
7.根据权利要求6所述的模式间串扰测量装置,其特征在于,所述第二获取子单元具体用于:
根据所述时域离散点,获取所述串扰模式和所述主模式在所述采集点上的功率比值;
根据所述功率比值,获取所述被测分立模式器件的主模式在所述采集点上的模场强度和所述串扰模式在所述采集点上的模场强度。
8.根据权利要求7所述的模式间串扰测量装置,其特征在于,所述第二获取子单元通过公式获取所述串扰模式和所述主模式在所述采集点上的功率比值;
其中,α(x,y,τ)表示所述串扰模式和所述主模式在所述采集点上的功率比值,τ表示所述串扰模式和所述主模式之间的时延。
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