[发明专利]校准方法和装置、终端、校准系统和存储介质

权利要求书

1.一种校准方法，其特征在于，包括：

显示预设的显示模板；

检测所述显示模板对应的第一显示参数，所述第一显示参数包括亮度参数和色度参数中至少一种；

根据所述第一显示参数和目标显示模式预设的第二显示参数计算校准参数；及

根据所述校准参数校准显示图像。

2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述显示模板包括多个不同灰阶的白色显示模板、多个不同灰阶的红色显示模板、多个不同灰阶的绿色显示模板、多个不同灰阶的蓝色显示模板、多个不同灰阶的黄色显示模板、多个不同灰阶的青色显示模板和多个不同灰阶的品红色显示模板中至少一个。

3.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，所述显示预设的显示模板，包括：

在负载效应补偿关闭状态下，显示所述显示模板。

4.根据权利要求3所述的校准方法，其特征在于，所述根据所述第一显示参数和目标显示模式预设的第二显示参数计算校准参数，包括：

判断所述目标显示模式对应的负载效应补偿是否处于关闭状态；及

若是，则根据所述第一显示参数和所述第二显示参数计算校准参数。

5.根据权利要求4所述的校准方法，其特征在于，所述根据所述第一显示参数和所述第二显示参数计算校准参数，包括：

计算所述第一显示参数和所述第二显示参数的偏差值；及

根据所述偏差值确定所述校准参数。

6.根据权利要求4所述的校准方法，其特征在于，所述根据所述第一显示参数和目标显示模式预设的第二显示参数计算校准参数，还包括：

在所述目标显示模式对应的负载效应补偿处于开启状态时，根据负载效应补偿关闭状态下检测得到的所述第一显示参数和第一预设函数，计算负载效应补偿开启状态下的第三显示参数；及

根据所述第三显示参数和所述第二显示参数计算校准参数。

7.根据权利要求6所述的校准方法，其特征在于，所述根据负载效应补偿关闭状态下检测得到的所述第一显示参数和第一预设函数，计算负载效应补偿开启状态下的第三显示参数，包括：

根据所述第一显示参数的色度参数计算所述第三显示参数的色度参数；及

根据所述第一显示参数的亮度参数计算所述第三显示参数的亮度参数。

8.一种校准装置，其特征在于，包括：

显示模块，用于显示预设的显示模板；

检测模块，用于检测所述显示模板对应的第一显示参数，所述第一显示参数包括亮度参数和色度参数中至少一种；

计算模块，用于根据所述第一显示参数和目标显示模式预设的第二显示参数计算校准参数；及

校准模块，用于根据所述校准参数校准显示图像。

9.一种终端，其特征在于，包括显示器和处理器，所述显示器用于显示预设的显示模板；所述处理器用于控制外部的检测器检测所述显示模板对应的第一显示参数，所述第一显示参数包括亮度参数和色度参数中至少一种；所述处理器用于根据所述第一显示参数和目标显示模式预设的第二显示参数计算校准参数；所述显示器还用于根据所述校准参数校准显示图像。

10.一种检测系统，其特征在于，包括显示器、检测器和处理器，所述显示器用于显示预设的显示模板；所述检测器用于检测所述显示模板对应的第一显示参数，所述第一显示参数包括亮度参数和色度参数中至少一种；所述处理器用于根据所述第一显示参数和目标显示模式预设的第二显示参数计算校准参数；所述显示器还用于根据所述校准参数校准显示图像。

11.一种包含计算机程序的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1至7中任一项所述的校准方法。