[发明专利]一种密钥编程方法、系统、电子设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种密钥编程方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括：在检测到写入指令时，向密钥生成器发送密钥请求；判断是否接收到密钥生成器发送的目标密钥；若未接收到目标密钥，则确定发生密钥生成故障，并将第一寄存器设置为生成错误状态；若接收到目标密钥，则将目标密钥编程入一次性编程区域，并根据编程结果对第二寄存器进行设置；该方法利用第一寄存器表示目标密钥的获取情况，并在成功获取目标密钥时利用第二寄存器表明目标密钥的写入情况，可以在发生故障时通过第一寄存器或第二寄存器准确地得知发生故障的原因，快速准确地完成故障定位。

技术领域

本申请涉及芯片技术领域，特别涉及一种密钥编程方法、密钥编程系统、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术

在超大规模集成电路中，常常需要在芯片出厂前将一些数据如温度传感器校验值、电压检测器校验值、芯片ID、外围接口如SPI/UART/I2C等关闭信息、根密钥等编程为指定的预设值储存到芯片中，以使芯片在工作模式下上电后能够正常工作。在芯片出厂后的使用过程中，这些值都不能被改变。因此就用到OTP(One Time Programmable的英文缩写，意思是一次性可编程)器件来存储这些数据。OTP存储器的存储区域默认值是全零，每比特只能编程一次且只能从0编程为1。相关技术通常通过控制芯片的管脚输入和CPU配置总线一样时序来模拟CPU的配置行为，触发OTP控制器，使其调用密钥生成器产生密钥，并将密钥随机编程到OTP密钥区域中，最后通过读取OTP密钥区域中的值确定OTP密钥区域是否被成功编程写入。然而，通过读取OTP密钥区域中的值的方式仅能确定密钥是否被成功便成，若OTP密钥区域没有被正确编程，则很难确定故障原因，无法快速完成故障定位。

因此，相关技术存在的无法快速完成故障定位的问题，是本领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种密钥编程方法、密钥编程系统、电子设备及计算机可读存储介质，可以快速准确地完成故障定位。

为解决上述技术问题，本申请提供了一种密钥编程方法，包括：

在检测到写入指令时，向密钥生成器发送密钥请求；

判断是否接收到所述密钥生成器发送的目标密钥；

若未接收到所述目标密钥，则确定发生密钥生成故障，并将第一寄存器设置为生成错误状态；

若接收到所述目标密钥，则将所述目标密钥编程入一次性编程区域，并根据编程结果对第二寄存器进行设置。

可选地，所述将所述目标密钥编程入一次性编程区域，并根据编程结果对第二寄存器进行设置，包括：

利用所述目标密钥对所述一次性编程区域进行写入编程，监控所述写入编程的编程过程，得到所述编程结果；

若所述编程结果为成功，则确定密钥编程成功，并将所述第二寄存器设置为编程成功状态；

若所述编程结果为失败，则确定发生密钥编程故障，并将所述第二寄存器设置为编程失败状态。

可选地，所述将所述第二寄存器设置为编程失败状态，包括：

基于所述编程过程将所述第二寄存器设置为目标编程失败状态。

可选地，在将所述目标密钥编程入一次性编程区域之后，在根据编程结果对第二寄存器进行设置之前，还包括：

执行空白检测操作，得到目标检测结果；

判断所述目标检测结果是否为失败；

若所述目标检测结果不为失败，则确定密钥编程失败，所述编程结果为失败；

若所述目标检测结果为成功，则确定密钥编程成功，所述编程结果为成功。