[发明专利]一种光学电流测量装置在审

专利信息
申请号: 202011353249.2 申请日: 2020-11-26
公开(公告)号: CN112362945A 公开(公告)日: 2021-02-12
发明(设计)人: 吴海泉;江佣朝 申请(专利权)人: 湖南新海讯光电有限公司
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 刘奕
地址: 414418 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 电流 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种光学电流测量装置,其特征在于,包括光电解调系统、传感头系统、光纤分支器、动态校正系统和磁屏蔽系统;

所述光电解调系统包括光电解调单元和光源,所述光电解调单元通过光缆与所述光纤分支器上行接口连接,所述光源通过所述光纤分支器与所述晶体光阀传感器及所述动态校正系统连接;

所述传感头系统包括一个或多个晶体光阀传感器和导电杆,所述晶体光阀传感器固定于所述导电杆周围,所述晶体光阀传感器的两端通过光纤与所述光纤分支器下行光接口连接;

所述动态校正系统通过光纤与所述光纤分支器的下行接口连接;

所述磁屏蔽系统包括屏蔽磁环,所述屏蔽磁环固定在所述晶体光阀传感器上。

2.根据权利要求1所述的光学电流测量装置,其特征在于,所述屏蔽磁环为套筒状且设置有供被测导体穿过的通孔。

3.根据权利要求2所述的光学电流测量装置,其特征在于,所述屏蔽磁环上缠绕有线圈,所述线圈围绕所述屏蔽磁环的纵剖面在所述屏蔽磁环的内表面和外表面上连续缠绕。

4.根据权利要求1所述的光学电流测量装置,其特征在于,所述所述屏蔽磁环由硅钢片或非晶合金材料压接制成。

5.根据权利要求1所述的光学电流测量装置,其特征在于,所述动态校正系统包括光学标尺,所述光学标尺与光纤分支器下行接口连接。

6.根据权利要求1所述的光学电流测量装置,其特征在于,所述光源是激光发射器。

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