[发明专利]一种基于激光三维扫描的缺陷识别装置及方法在审
申请号: | 202011353846.5 | 申请日: | 2020-11-26 |
公开(公告)号: | CN112484664A | 公开(公告)日: | 2021-03-12 |
发明(设计)人: | 黄礼缸;浦传勇 | 申请(专利权)人: | 江苏国和智能科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25;G01N21/88 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 应孔月 |
地址: | 214522 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 激光 三维 扫描 缺陷 识别 装置 方法 | ||
1.一种基于激光三维扫描的缺陷识别装置,其特征在于,包括:
信息获取模块,所述信息获取模块主要由线结构激光器和相机构成,所述线结构激光器用于按照扫描顺序对待测物体进行扫描,所述相机用于获取待测物体的图像,所述图像中具有所述线结构激光器的扫描光条;
图像信息处理模块,所述图像信息处理模块用于利用三点扫描测距的方法,对所述图像进行缺陷识别。
2.根据权利要求1所述的一种基于激光三维扫描的缺陷识别装置,其特征在于,所述对所述图像进行缺陷识别,包括:
依次对所述的图像进行零点消除处理、中值高斯滤波、基于二阶导数的特征描述以及提取,以及最小生成树缺陷识别。
3.根据权利要求1所述的一种基于激光三维扫描的缺陷识别装置,其特征在于,所述缺陷识别包括待测物体上有无缺陷。
4.根据权利要求1所述的一种基于激光三维扫描的缺陷识别装置,其特征在于,所述缺陷识别还包括缺陷的位置、长度、大小以及深度信息的测量。
5.根据权利要求4所述的一种基于激光三维扫描的缺陷识别装置,其特征在于,所述缺陷的位置、长度、大小以及深度信息的测量方法,包括:
基于结构光,利用相位信息进行三维重建,还原出待测物体与扫描光条的位置关系,利用解相位和展开相位的方法计算待测物体上缺陷的位置、长度、大小以及深度信息。
6.根据权利要求1所述的一种基于激光三维扫描的缺陷识别装置,其特征在于,还包括:
信息显示模块,所述信息显示模块用于显示对待测物体进行缺陷识别结果。
7.根据权利要求1所述的一种基于激光三维扫描的缺陷识别装置,其特征在于,还包括:
待测物体图像显示模块,所述待测物体显示模块用于实时显示待测物体的实时图像。
8.一种基于激光三维扫描的缺陷识别方法,其特征在于,包括:
通过线结构激光器按照扫描顺序对待测物体进行扫描,通过相机获取待测物体的图像,所述图像中具有所述线结构激光器的扫描光条;
利用三点扫描测距的方法,对所述图像进行缺陷识别。
9.根据权利要求8所述的一种基于激光三维扫描的缺陷识别方法,其特征在于,所述对所述图像进行缺陷识别,具体是:依次对所述的图像进行零点消除处理、中值高斯滤波、基于二阶导数的特征描述以及提取,以及最小生成树缺陷识别。
10.根据权利要求8所述的一种基于激光三维扫描的缺陷识别方法,其特征在于,所述缺陷识别包括待测物体上有无缺陷;进一步还包括缺陷的位置、长度、大小以及深度信息的测量。
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