[发明专利]一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜及其制备方法在审
申请号: | 202011354923.9 | 申请日: | 2020-11-27 |
公开(公告)号: | CN112614902A | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 张悦;陈仁钊;刘曙光;庞先标 | 申请(专利权)人: | 北京绿兴能源科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/18;C23C14/35;C23C14/08;C23C16/40;C23C16/56 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 吕玲 |
地址: | 100010 北京市东城*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 异质结 太阳电池 复合 结构 透明 导电 薄膜 及其 制备 方法 | ||
1.一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜,其特征在于,包括依次连接的硅衬底、ITO薄膜L1层、BZO薄膜L2层、ITO薄膜L3层。
2.权利要求1所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1、在金字塔绒面硅衬底上采用磁控溅射方法生长10-20nm厚的ITO薄膜L1层;
S2、在ITO薄膜L1层上采用LPCVD方法生长的40-60nm厚的BZO薄膜L2层;
S3、在BZO薄膜L2层上采用磁控溅射方法生长10-20nm厚的ITO薄膜L3层;获得复合透明导电薄膜。
S4、将上述复合透明导电薄膜进行高温退火。
3.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤S1中,在金字塔绒面硅衬底上生长的ITO薄膜L1层的靶材为ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95-10:90;在金字塔单晶硅绒面衬底上生长ITO薄膜L1层的温度为室温;磁控溅射的功率密度在30mW/cm2-60mW/cm2;磁控溅射的气氛在0.4Pa-0.6Pa之间。
4.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,在所述步骤S1中,生长所述ITO薄膜L1层的磁控溅射的气氛为Ar与O2与H2的混合气氛,且H2与Ar的流量比介于1:80和1:125之间,O2与Ar的流量比介于1:40和1:60之间。
5.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,在所述步骤S2中,生长所述BZO薄膜L2层的温度为170-190℃;气压为50-200Pa。
6.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,在所述步骤S2中,生长所述BZO薄膜L2层的气氛为B2H6、DEZ以及H2O,且B2H6与H2O的流量比在介于1:2-1:6之间,DEZ与H2O的流量比在1:1-1:2之间。
7.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,在所述步骤S3中,生长所述ITO薄膜L3层的靶材为ITO靶材,其中In、Sn的重量比为5:95-10:90;生长所述ITO薄膜L3层的温度为室温;磁控溅射的功率密度在30mW/cm2-60mW/cm2;磁控溅射的气氛在0.4Pa-0.6Pa之间。
8.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,所述步骤S3中,生长所述ITO薄膜L3层的磁控溅射的气氛为Ar与O2与H2的混合气氛,且H2与Ar的流量比介于1:80和1:125之间。O2与Ar的流量比介于1:40和1:60之间。
9.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,生长所述ITO薄膜L3层的气氛中O2与Ar的流量比高于生长ITO薄膜L1层的O2与Ar的流量比。
10.根据权利要求2所述的一种用于异质结太阳电池的复合结构透明导电薄膜的制备方法,所述步骤S4中,退火温度为180-200℃,退火气氛为大气气氛,退火时间为15-30min。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的