[发明专利]显示面板的测试及分析方法

说明书

本公开提供一种显示面板的测试及分析方法，包括：提供一显示面板，该显示面板具有一电路以及一画素，该画素连接到该电路，其中该画素具有一电容器、一晶体管以及一电极，该电极电性连接到该电容器及该晶体管；测量该显示面板的一第一参数；关闭该画素；测量该显示面板的一第二参数；以及通过该第一参数减掉该第二参数以取得一第三参数。

技术领域

本公开是涉及一种显示面板的分析方法。特别是涉及一种取得与在该显示面板中的一或多个组件相关的一参数。再者，本公开是涉及一种显示面板的制备方法。特别是涉及一种多个显示器的制备方法，该方法包括分析一或多个显示面板。

背景技术

制造显示面板(例如液晶显示面板(liquid crystal display(LCD)panel)、薄膜晶体管液晶显示面板(thin-film transistor(TFT)LCD panel)或者是有机发光二极管面板(organic light-emitting diode(OLED)panel))之后，是以如一探针卡(probe card)的一探测元件(probing device)测试该显示面板。随着电子科技的进步，该显示面板具有大量的半导体组件，例如晶体管、电容器等等，其是具有非常小的尺寸并提供先进的功能。因此，当科技持续进步时，显示面板的测试则渐渐地变得复杂。而为了保持测试持续时间最小化，则需要快速地测试显示面板。

由于关于在显示面板内的所述组件的参数(例如电容、电流等等)是为非常小的尺度，因此很困难或者是不可能在一短期间内直接的测量如此参数。按惯例，所述参数是依据模拟或计算所获得。然而，因为在显示面板的所述组件制造期间的变异(variation)，可显著地降低模拟的精确度(accuracy)，因此模拟的精确度是低的(例如50％或更低)。

制造所产生的变异是无法避免的。因此，无法通过模拟而精确地获得关于在显示面板中的所述组件的所述参数。模拟参数会因为制程偏离而与实质参数有所变异，影响最后测试结果的判读与分析，实际测量个别参数并提取个别数据最为准确。据此，有持续的需要来改善在显示面板中的所述组件的所述参数所得到的精确度。

上文的“先前技术”说明仅是提供背景技术，并未承认上文的“先前技术”说明揭示本公开的标的，不构成本公开的先前技术，且上文的“先前技术”的任何说明均不应作为本申请的任一部分。

发明内容

本公开的一实施例提供一种显示面板的分析方法。该分析方法包括：提供一显示面板，该显示面板包括一电路以及一画素，该画素连接到该电路，其中该画素具有一电容器、一晶体管以及一电极，该电极连接到该电容器及该晶体管；测量该显示面板的一第一参数；关闭(disabling)该画素；测量该显示面板的一第二参数；以及通过该第一参数减掉该第二参数以取得一第三参数。

在本公开的一些实施例中，该画素的关闭是在该显示器的该第二参数的测量之前执行。

在本公开的一些实施例中，通过断开该电路与该画素的连接或者是切断该画素的该电极，以关闭该画素。

在本公开的一些实施例中，通过具有一预定图案的一光罩形成该画素的该电极，以关闭该画素。

在本公开的一些实施例中，该第一参数包括该电路的一寄生电容以及该画素的该电容器的一电容。

在本公开的一些实施例中，该第二参数包括该电路的一寄生电容。

在本公开的一些实施例中，所述的显示面板的分析方法还包括：在该第一参数的测量与该第二参数的测量之前或期间，将一电信号传送至该显示面板。

在本公开的一些实施例中，该电信号是从一探针卡的一探针传送至该显示面板。

在本公开的一些实施例中，该第一参数包括该电路的一寄生电容、该探针卡的一寄生电容以及该画素的该电容器的一电容。