[发明专利]回归测试方法、系统、设备及可读存储介质

说明书

本申请提供一种回归测试方法、系统、设备及可读存储介质，该方法包括：配置回归测试环境参数，并根据待测试子系统对应的环境配置建立回归测试环境的数据库；根据所述待测试子系统的回归运行配置生成所述待测试子系统对应的各子环境的命令集合，调用各所述子环境的目标线程执行各所述子环境的命令集合中的命令。由于首先进行的回归测试环境参数的配置和数据库的建立是所有子系统测试时所共有的过程，因此实现该方式的脚本可被所有子系统复用，在出现SoC层面的回归测试环境修改需求，或者需要新增某项回归测试所支持的功能，则只需要在该实现回归测试环境参数配置和回归测试环境数据库建立的脚本中进行更新调整即可，降低了回归测试的工作量。

技术领域

本申请涉及集成电路验证技术领域，具体而言，涉及一种回归测试方法、系统、设备及可读存储介质。

背景技术

当今的SoC(System-on-a-Chip，系统级芯片)设计越发复杂，从设计的层次来看，SoC由众多子系统所构成，而每个子系统又由多个IP(Intellectual Property，知识产权)核所构成。与之对应，验证团队需要分别搭建相应的子系统验证环境，以及在各自子系统下的IP验证环境来对整个SoC芯片进行分层验证。

无论是子系统验证环境，还是其下的IP验证环境都需要通过回归测试进行验证的收敛。不同的子系统往往交由不同的验证团队负责验证，验证团队会根据该子系统以及其下IP的验证需求，搭建属于该子系统的回归测试环境。

由于不同子系统的验证需求存在差异，导致不同子系统的回归测试环境互相独立，不能兼容，从而产生以下问题：

1.从SoC层面对项目的全局性调整需要对每个子系统的回归测试环境进行修改。比如项目的切换，验证工具的版本更新等都需要每个验证团队针对各自的回归测试环境做专门调整，这样既增加了各回归测试环境改动的重复工作量，又容易导致不同回归测试环境设置的失配。

2.从回归测试所支持的功能而言，如果需要新增某项功能，比如加入对回归测试无效数据的回收机制，每个验证团队需要根据各自的回归测试环境中的流程结构决定如何嵌入新增的功能。对于不同子系统的回归测试环境而言，内部的流程结构控制可能完全不同，因此新功能的加入对于各子系统的回归测试环境将是定制化的工作，这将增加回归测试环境支持该新功能的开发难度。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种回归测试方法、系统、设备及可读存储介质，用以解决上述问题。

本申请实施例提供了一种回归测试方法，包括：配置回归测试环境参数，并根据待测试子系统对应的环境配置信息建立回归测试环境的数据库；根据所述待测试子系统的回归运行配置生成所述待测试子系统对应的各子环境的命令集合，调用各所述子环境的目标线程执行各所述子环境的命令集合中的命令。

在上述实现过程中，将所有子系统测试时所共有的回归测试环境参数配置过程和回归测试环境的数据库建立过程提取出来，首先进行回归测试环境参数和回归测试环境的数据库这一所有子系统测试时所共有的基本环境的构建。然后，根据待测试子系统独特的回归运行配置，生成待测试子系统对应的各子环境的命令集合，调用各子环境的目标线程执行各所述子环境的命令集合中的命令，从而实现对于该子系统的测试。通过本申请实施例的方案，由于首先进行回归测试环境参数和回归测试环境的数据库这一所有子系统测试时所共有的基本环境的构建，该过程是所有子系统测试时所共有的，因此实现该方式的脚本可被所有子系统所复用，相当于实现了在所有子系统测试中，SoC层面的回归测试环境和流程结构的统一，从而在一旦出现SoC层面的回归测试环境修改需求，或者需要新增某项回归测试所支持的功能，则只需要在该实现回归测试环境参数和回归测试环境的数据库的脚本中进行相应的更新调整即可，不再需要对每个子系统的回归测试环境进行针对性的修改，也不再需要每个验证团队都根据各自的回归测试环境中的流程结构各自决定如何嵌入新增的功能，从而降低了回归测试的工作量，避免了不同回归测试环境设置的失配问题，同时也降低了回归测试环境支持新功能的开发难度。