[发明专利]测试方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种测试方法，其特征在于，应用于电子设备，所述方法包括：

获取至少一组测试数据，其中，所述至少一组测试数据为预设测试工具基于测试样本的输出结果；

调整所述至少一组测试数据的数据内容和/或数据结构，获得至少一组变异测试数据；

将所述至少一组变异测试数据分别输入至目标待测系统，获得测试结果。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述调整所述至少一组测试数据的数据内容和/或数据结构，获得至少一组变异测试数据，包括：

针对每组目标测试数据，调整所述目标测试数据中数据内容之间的排列顺序，获得至少一组第一变异数据；其中，所述目标测试数据为所述测试数据中的一部分；

和/或针对每组目标第一数据，将测试字典插入到所述目标第一数据中，获得至少一组第二变异数据，其中，所述测试字典为预先收集的测试数据，所述目标第一数据为所述第一变异数据中的一部分；

和/或针对多组目标第二数据，将所述多组目标第二数据进行数据重组，获得至少一组第三变异数据，其中，所述目标第二数据为所述第二变异数据中的一部分；

将所述至少一组第一变异数据、所述至少一组第二变异数据和/或所述至少一组第三变异数据作为所述至少一组变异测试数据。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试结果包括目标函数的调用记录，所述将所述变异测试数据输入至目标待测系统之前，所述方法还包括：

确定所述目标函数在系统源代码中的位置，其中，所述系统源代码为所述目标待测系统的源代码；

根据所述目标函数的位置，对所述目标函数进行标记。

4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试结果包括被调用指令的指令数量，所述电子设备记录有历史指令数量，所述方法还包括：

针对每组所述变异测试数据，检测所述变异测试数据对应的指令数量是否大于所述历史指令数量；

若是，则将所述变异测试数据作为测试样本。

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述预设测试工具为Peach模糊测试工具，所述获取至少一组测试数据之前，所述方法还包括：

基于预设的配置文件以及所述测试样本，通过所述Peach模糊测试工具获得所述至少一组测试数据。

6.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：

数据获取模块，用于获取至少一组测试数据，其中，所述至少一组测试数据为预设测试工具基于测试样本的输出结果；

数据变异模块，用于调整所述至少一组测试数据的数据内容和/或数据结构，获得至少一组变异测试数据；

数据测试模块，用于将所述至少一组变异测试数据分别输入至目标待测系统，获得测试结果。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述数据变异模块具体用于：

针对每组目标测试数据，调整所述目标测试数据中数据内容之间的排列顺序，获得至少一组第一变异数据；其中，所述目标测试数据为所述测试数据中的一部分；

和/或针对每组目标第一数据，将测试字典插入到所述目标第一数据中，获得至少一组第二变异数据，其中，所述测试字典为预先收集的测试数据，所述目标第一数据为所述第一变异数据中的一部分；

和/或针对多组目标第二数据，将所述多组目标第二数据进行数据重组，获得至少一组第三变异数据，其中，所述目标第二数据为所述第二变异数据中的一部分；

将所述至少一组第一变异数据、所述至少一组第二变异数据和/或所述至少一组第三变异数据作为所述至少一组变异测试数据。

8.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述测试结果包括被调用指令的指令数量，所述数据测试模块，还用于：

针对每组所述变异测试数据，检测所述变异测试数据对应的指令数量是否大于历史指令数量；

若是，则将所述变异测试数据作为测试样本。