[发明专利]遥控器测试方法、装置及存储介质在审
申请号: | 202011358881.6 | 申请日: | 2020-11-27 |
公开(公告)号: | CN112666454A | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
发明(设计)人: | 雷军平 | 申请(专利权)人: | 深圳市创荣发电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 邱维杰 |
地址: | 518110 广东省深圳市龙华区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 遥控器 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
1.遥控器测试方法,其特征在于,包括:
标记待测试遥控器的所有按键的位置,所述位置包括所有所述按键的所在行;
根据第一操作指令,将所有所述按键设置为按压状态;
设置所有所述按键在所述按压状态下的工作模式为第一模式,获取每一行的所述按键的第一电平状态;
根据第二操作指令,将所有所述按键设置为松开状态;
设置所有所述按键在所述松开状态下的工作模式为第二模式,获取每一行的所述按键的第二电平状态;
其中,所述第一电平状态用于表征待测试的所述按键在所述按压状态下是否为正常状态,所述第二电平状态用于表征待测试的所述按键在所述松开状态下是否为正常状态。
2.根据权利要求1所述的遥控器测试方法,其特征在于,所述根据第一操作指令,将所有所述按键设置为按压状态,包括:
同时按下所有所述按键,将所有所述按键设置为按压状态。
3.根据权利要求1所述的遥控器测试方法,其特征在于,所述设置所有所述按键在所述按压状态下的工作模式为第一模式,获取每一行的所述按键的第一电平状态,包括:
设置每一行的所述按键的工作模式为第三模式;
设置目标列的所述按键的工作模式为第四模式,设置非目标列的所述按键的工作模式为第五模式;
获取每一行的所述按键的第一电平状态。
4.根据权利要求3所述的遥控器测试方法,其特征在于,所述设置每一行的所述按键的工作模式为第三模式,包括:
设置每一行的所述按键的I/O口为上拉输入模式。
5.根据权利要求3所述的遥控器测试方法,其特征在于,所述设置目标列的所述按键的工作模式为第四模式,设置非目标列的所述按键的工作模式为第五模式,包括:
设置目标列的所述按键的I/O口为低电平输出模式;
设置非目标列的所述按键的I/O口为非上拉输入模式。
6.根据权利要求1所述的遥控器测试方法,其特征在于,所述根据第二操作指令,将所有所述按键设置为松开状态,包括:
同时按下所有所述按键,在预定时间之后松开所有所述按键,将所有所述按键设置为松开状态。
7.根据权利要求1所述的遥控器测试方法,其特征在于,所述设置所有所述按键在所述松开状态下的工作模式为第二模式,获取每一行的所述按键的第二电平状态,包括:
设置每一行的所述按键的工作模式为第六模式,设置每一列的所述按键的工作模式为第七模式;
获取每一行的所述按键的第二电平状态。
8.根据权利要求7所述的遥控器测试方法,其特征在于,所述设置每一行的所述按键的工作模式为第六模式,设置每一列的所述按键的工作模式为第七模式,包括:
设置每一行的所述按键的I/O口为上拉输入模式;
设置每一列的所述按键的I/O口为低电平输出模式。
9.遥控器测试装置,其特征在于,包括:
第一处理模块,用于标记待测试遥控器的所有按键的位置,所述位置包括所有所述按键的所在行;
第二处理模块,用于根据第一操作指令,将所有所述按键设置为按压状态;
第三处理模块,用于设置所有所述按键在所述按压状态下的工作模式为第一模式,获取每一行的所述按键的第一电平状态;
第四处理模块,用于根据第二操作指令,将所有所述按键设置为松开状态;
第五处理模块,用于设置所有所述按键在所述松开状态下的工作模式为第二模式,获取每一行的所述按键的第二电平状态;
其中,所述第一电平状态用于表征待测试的所述按键在所述按压状态下是否为正常状态,所述第二电平状态用于表征待测试的所述按键在所述松开状态下是否为正常状态。
10.计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于使计算机执行如权利要求1至8任一项所述的遥控器测试方法。
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