[发明专利]双极板接触电阻的测试设备

说明书

本发明涉及双极板测试技术领域，特别涉及一种双极板接触电阻的测试设备。通过X轴驱动模组驱动检测机构在X轴上移动，Y轴驱动模组驱动承载机构在Y轴上移动，检测双极板在XY轴上不同点的检测，以实现对双极板的多点接触电阻测试，解决现有的测试设备不能进行多点的接触电阻测试的问题。

技术领域

本发明涉及双极板测试技术领域，特别涉及一种双极板接触电阻的测试设备。

背景技术

目前，双极板的接触电阻测试大多数是单点测试，也就是说，测试设备只能对双极板的固定的一个点进行接触电阻测试，但是在有些情况，需要对双极板多点进行接触电阻测试，为此，现有的测试设备不能满足用户的测试需求。

发明内容

针对现有技术不足，本发明提出一种双极板接触电阻的测试设备，旨在解决现有的测试设备不能进行多点的接触电阻测试的问题。

本发明提出的技术方案是：

一种双极板接触电阻的测试设备，包括下机架、X轴驱动模组、检测机构、Y轴驱动模组和承载机构；

所述X轴驱动模组、所述Y轴驱动模组设于所述下机架，所述检测机构设于所述X轴驱动模组，所述承载机构设于所述Y轴驱动模组，所述承载机构用于承载双极板，所述Y轴驱动模组位于X轴驱动模组的一侧；

所述X轴驱动模组驱动所述检测机构至第一X轴检测位置，所述Y轴驱动模组驱动所述承载机构至第一Y轴检测位置，所述检测机构检测所述双极板在不同压力值对应的电阻值，所述X轴驱动模组驱动所述检测机构至第二X轴检测位置，所述检测机构检测所述双极板在不同压力值对应的电阻值；

所述X轴驱动模组驱动所述检测机构至第一X轴检测位置，所述Y轴驱动模组驱动所述承载机构至第二Y轴检测位置，所述检测机构检测所述双极板在不同压力值对应的电阻值，所述X轴驱动模组驱动所述检测机构至第二X轴检测位置，所述检测机构检测所述双极板在不同压力值对应的电阻值。

进一步地，所述承载机构包括第一支架和承载板，所述第一支架设于所述Y轴驱动模组，所述承载板设于所述第一支架，且朝向检测机构凸出，所述承载板设有第一定位槽，所述第一定位槽的槽底壁设有第一通孔。

进一步地，所述检测机构包括第二支架、上检测装置、下检测装置、第一滑轨、第一滑块和第二滑块，所述第二支架设于所述X轴驱动模组，所述第一滑轨设于所述第二支架的侧壁，所述第一滑块和所述第二滑块均滑设于所述第一滑轨，所述第一滑块位于所述第二滑块的上方，所述上检测装置与所述第一滑块连接，所述下检测装置与所述第二滑块连接，所述下检测装置沿着所述第一滑轨向上移动到第一预设位置，所述下检测装置与所述双极板的下侧壁抵接，所述上检测装置沿着所述第一滑轨向下移动到第二预设位置，所述上检测装置与所述双极板的上侧壁抵接，所述上检测装置对所述双极板产生不同的压力。

进一步地，所述上检测装置包括第一支板、第二支板、第一驱动模块、第一连接杆、压力传感器和第一铜电极检测组件，所述第一支板设于所述第二支架的侧壁，所述第二支板设于所述第一滑块，所述第一驱动模块设于所述第一支板，所述第一支板设有第二通孔，所述第一连接杆的一端穿过所述第二通孔与所述第一驱动模块连接，所述压力传感器设于所述第二支板的上侧壁，且与所述第一连接杆的另一端连接，所述第一铜电极检测组件设于所述第二支板的下侧壁。