[发明专利]触控屏的校准方法及装置、终端和存储介质在审

专利信息
申请号: 202011364131.X 申请日: 2020-11-27
公开(公告)号: CN112328123A 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 慕伟虎 申请(专利权)人: 北京小米移动软件有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041;G06F3/044
代理公司: 北京善任知识产权代理有限公司 11650 代理人: 康艳青
地址: 100085 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 触控屏 校准 方法 装置 终端 存储 介质
【说明书】:

本公开是关于一种触控屏的校准方法及装置、存储介质。该方法应用于终端,包括:检测作用于触控屏的触控压力,并检测反应所述触控压力作用于所述触控屏时的所述触控屏形变状况的触控数据;在所述触控压力撤销后,根据所述触控数据和所述触控压力,校准所述触控屏的基准数据;其中,所述基准数据为所述触控屏确认未检测到触控操作时对应的触控数据。通过本公开实施例的技术方案,可以在触控压力导致触控屏产生轻微变形而使得触控传感器的检测数据发生变化时,能够通过校准使得触控屏将变形后检测的触控数据调整至基准数据,从而减少由于触控屏的形变产生的触控屏数据变化带来的误检测以及触控不灵敏的情况。

技术领域

本公开涉及电子技术,尤其涉及一种触控屏的校准方法及装置、终端和存储介质。

背景技术

随着电子技术的发展,触控屏被广泛应用于各种终端电子设备,并且逐渐发展为大尺寸的全面屏、曲面屏甚至环绕屏等等。在用户使用电子设备的过程中,也更加容易触碰或者挤压到触控屏的表面。由于触控屏往往使用电容感应原理检测触控操作,因此在触控屏受到挤压或者碰撞而发生形变时容易产生电容的变化,造成触控检测不准确,以及触控操作不灵敏的情况。

发明内容

本公开提供一种触控屏的校准方法及装置、终端和存储介质。

根据本公开实施例的第一方面,提供一种触控屏的校准方法,所述方法应用于终端,包括:

检测作用于触控屏的触控压力,并检测反应所述触控压力作用于所述触控屏时的所述触控屏形变状况的触控数据;

在所述触控压力撤销后,根据所述触控数据和所述触控压力,校准所述触控屏的基准数据;其中,所述基准数据为所述触控屏确认未检测到触控操作时对应的触控数据。

在一些实施例中,所述方法还包括:

根据所述触控数据和所述触控压力,确定所述触控屏的形变系数;

所述在所述触控压力撤销后,根据所述触控数据和所述触控压力,校准所述触控屏的基准数据,包括:

根据所述触控数据,确定触控位置;

在所述触控压力撤销后,根据所述形变系数,调整所述触控位置的基准数据。

在一些实施例中,所述方法还包括:

确定所述形变系数是否在预存的形变系数范围内;

所述在所述触控压力撤销后,根据所述形变系数和所述触控位置,调整所述触控位置的基准数据,包括:

如果所述形变系数在所述形变系数范围内,则在所述触控压力撤销后,根据所述形变系数,调整所述触控位置的基准数据。

在一些实施例中,所述方法还包括:

如果所述形变系数在所述形变系数范围以外,则在所述触控压力撤销后,根据所述触控屏上的触控传感器检测到的触控数据,调整所述触控屏全部的基准数据。

在一些实施例中,所述根据所述触控数据和所述触控压力,确定所述触控屏的形变系数,包括:

在检测到触控屏上的触控压力的时段内,确定所述触控压力和触控数据的关系曲线;

根据所述关系曲线的变化率,确定所述形变系数。

根据本公开实施例的第二方面,提供一种触控屏的校准装置,所述装置应用于终端,包括:

检测模块,用于检测作用于触控屏的触控压力,并检测反应所述触控压力作用于所述触控屏时的所述触控屏形变状况的触控数据;

校准模块,用于在所述触控压力撤销后,根据所述触控数据和所述触控压力,校准所述触控屏的基准数据;其中,所述基准数据为所述触控屏确认未检测到触控操作时对应的触控数据。

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