[发明专利]一种基于线性调频信号的磁屏蔽系数快速测量方法及装置

权利要求书

1.一种基于线性调频信号的磁屏蔽系数快速测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1，设置三轴磁场线圈，并通过函数发生器向所述三轴磁场线圈内部输入线性调频信号，使其产生磁场幅值固定为|B|、磁场频率随时间线性变化，且方向为x轴方向的均匀磁场；在所述均匀磁场内放置内置有高动态磁通门磁强计的待测磁屏蔽设备；

S2，通过所述高动态磁通门磁强计测量所述待测磁屏蔽设备的内部磁场幅值B’；

S3，该固定幅值下的磁屏蔽系数S即为所述均匀磁场的磁场幅值|B|与所述内部磁场幅值B’的比值，即

S4，改变S1中所述函数发生器向所述三轴磁场线圈内部输入的线性调频信号的幅值，使所述均匀磁场的磁场幅值|B|发生指数式增加，并重复S2-S3，得到不同磁场幅值下所述待测磁屏蔽设备的x轴向磁屏蔽系数，进而得到x轴向磁屏蔽系数与所述均匀磁场的磁场幅值、磁场频率之间的函数关系。

2.根据权利要求1所述基于线性调频信号的磁屏蔽系数快速测量方法，其特征在于，还包括如下步骤：

S5，将S1中均匀磁场的方向改变为y向和/或z向，重复上述步骤S2-S4，分别得到y轴向磁屏蔽系数或z轴向磁屏蔽系数与所述均匀磁场的磁场幅值、磁场频率之间的函数关系。

3.根据权利要求1或2所述基于线性调频信号的磁屏蔽系数快速测量方法，其特征在于，所述S1中，所述三轴磁场线圈包括能产生x轴方向磁场的Lee-Whiting线圈和能产生y、z轴方向磁场的鞍形线圈。

4.根据权利要求1或2所述基于线性调频信号的磁屏蔽系数快速测量方法，其特征在于，所述S2中，所述高动态磁通门磁强计测量到的所述内部磁场幅值B’为在一定时间段T内持续不变的所述均匀磁场的磁场幅值。

5.根据权利要求2所述基于线性调频信号的磁屏蔽系数快速测量方法，其特征在于，所述S4中，使所述均匀磁场的磁场幅值B发生指数式增加，具体为，使所述均匀磁场的磁场幅值|B|在10nT-10⁵nT范围内，满足lg|B|＝nlg10，其中n＝1,2,3,4,5。

6.根据权利要求1或2所述基于线性调频信号的磁屏蔽系数快速测量方法，其特征在于，所述线性调频信号是一种信号频率随时间线性变化的信号，其在时域中的表达式为：

其中，A为信号幅值，f_起为起始频率，f_终为终止频率，T为信号持续时间；

所述线性调频信号的频域图像总存在频率f₁至f₂之间的平坦区间，在实际测量中应满足磁场信号的起始频率f_起与终止频率f_终在所述平坦区间内，即f₁f_起，f₂f_终。

7.根据权利要求1或2所述基于线性调频信号的磁屏蔽系数快速测量方法，其特征在于，三轴磁场线圈产生的均匀磁场的磁场幅值|B|与所述高动态磁通门磁强计检测到的所述内部磁场幅值B’均为时域信号，应先对其进行快速傅里叶变换，再计算磁屏蔽系数。