[发明专利]数据检测方法、装置、电子设备及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202011366737.7 申请日: 2020-11-26
公开(公告)号: CN112416891A 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 张朝潞 申请(专利权)人: 北京天融信网络安全技术有限公司;北京天融信科技有限公司;北京天融信软件有限公司
主分类号: G06F16/182 分类号: G06F16/182;G06F16/17
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 钟扬飞
地址: 100000 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 数据 检测 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种数据检测方法,其特征在于,所述方法包括:

获取目标文件集的第一副本的第一校验值及所述目标文件集的第二副本的第二校验值,其中,所述第一校验值为基于校验算法及所述第一副本中的所有第一数据块的校验值确定的校验值,所述第二校验值为基于所述校验算法及所述第二副本中的所有第二数据块的校验值确定的校验值;

根据所述第一校验值及所述第二校验值确定所述第一副本、所述第二副本是否存在异常的检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一副本包括多个第一组件,所述多个第一组件中的每个第一组件包括多个第一数据块,所述第二副本包括多个第二组件,所述多个第二组件中的每个第二组件包括多个第二数据块;

在获取目标文件集的第一副本的第一校验值及所述目标文件集的第二副本的第二校验值之前,所述方法还包括:

针对所述多个第一组件中的每个第一组件,通过所述校验算法对每个所述第一组件中的所有第一数据块的校验值进行运算,得到表征所述每个第一组件的校验值,所述第一数据块的校验值为:通过所述校验算法对存储后的第一数据块中的第一数据进行运算得到的校验值;

通过所述校验算法,对所述多个第一组件对应的校验值进行运算,得到表征所述第一副本的所述第一校验值;

针对所述多个第二组件中的每个第二组件,通过所述校验算法对每个所述第二组件中的所有第二数据块的校验值进行运算,得到表征所述每个第二组件的校验值,所述第二数据块的校验值为:通过所述校验算法对存储后的第二数据块中的第二数据进行运算得到的校验值;

通过所述校验算法,对所述多个第二组件对应的校验值进行运算,得到表征所述第二副本的所述第二校验值。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

当所述检测结果表征所述第一副本和/或所述第二副本存在异常时,将每个第一组件的校验值与所述多个第二组件中对应的第二组件的校验值进行比对;

若存在相比对的任一组的第一组件与第二组件的校验值不同,将所述任一组中的第一组件作为第一目标组件,将所述任一组中的第二组件作为第二目标组件;

将所述第一目标组件中的每个第一数据块的校验值与所述第二目标组件中对应的第二数据块的校验值进行比对;

若存在相比对的任一组的第一数据块与第二数据块的校验值不同,将所述任一组中的第一数据块及第二数据块确定为存在异常的数据块。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一副本包括多个第一数据块,所述第二副本包括多个第二数据块;

在获取目标文件集的第一副本的第一校验值及所述目标文件集的第二副本的第二校验值之前,方法还包括:

通过所述校验算法对所述第一副本中的所述多个第一数据块的校验值进行运算,得到并存储表征所述第一副本的所述第一校验值,所述第一数据块的校验值为:通过所述校验算法对存储后的第一数据块中的第一数据进行运算得到的校验值;

通过所述校验算法对所述第二副本中的所述多个第二数据块的校验值进行运算,得到并存储表征所述第二副本的所述第二校验值,所述第二数据块的校验值为:通过所述校验算法对存储后的第二数据块中的第二数据进行运算得到的校验值。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

当所述检测结果表征所述第一副本和/或所述第二副本存在异常时,将每个第一数据块的校验值与所述第二副本中对应的第二数据块的校验值进行比对;

若存在相比对的任一组的第一数据块与第二数据块的校验值不同,将所述任一组中的第一数据块及第二数据块确定为存在异常的数据块。

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