[发明专利]敏感器件检测工装及其光谱仪在审

专利信息
申请号: 202011366969.2 申请日: 2020-11-27
公开(公告)号: CN112444511A 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 丁志强;袁丁;吴红彦;夏征 申请(专利权)人: 北京华泰诺安探测技术有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/01;G01N33/22
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 朱晓彤
地址: 101318 北京市顺*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 敏感 器件 检测 工装 及其 光谱仪
【权利要求书】:

1.一种敏感器件检测工装,包括:

用于检测敏感器件的痕量爆炸物的光谱仪组件(20),所述光谱仪组件(20)内设有用于安置敏感器件的安置通道,所述安置通道贯穿所述光谱仪组件(20)的两端,所述光谱仪组件(20)的底部设置在托板(27)上,所述托板(27)的一端固定设有用于限制敏感器件位置的限位板(25),所述限位板(25)的一面抵接在所述光谱仪组件(20)一端的侧面,所述光谱仪组件(20)的顶部设有压板(28)。

2.根据权利要求1所述的敏感器件检测工装,其特征在于,所述光谱仪组件(20)包括光谱仪腔体(201)、第一传感器电路板(202)、第二传感器电路板(203)和光谱仪灯板(204),所述光谱仪腔体(201)的顶部固定设有所述光谱仪灯板(204),所述光谱仪腔体(201)的相对两侧分别固定设有所述第一传感器电路板(202)和所述第二传感器电路板(203),所述光谱仪腔体(201)的底部设在所述托板(27)上,所述安置通道有两个,两个所述安置通道独立且间隔设置,两个所述安置通道内分别设有第一敏感器件(23)和第二敏感器件(24),所述第一传感器电路板(202)和所述第二传感器电路板(203)的数量均有两个,所述光谱仪腔体(201)相对两侧分别设有用于安装两个所述第一传感器电路板(202)的两个第一开口以及用于安装两个所述第二传感器电路板(203)的两个第二开口,两个所述第一开口与一所述安置通道连通,两个所述第二开口与另一所述安置通道连通,所述光谱仪腔体(201)的顶部设有四个用于所述光谱仪灯板(204)的光射入对应的所述安置通道内的第三开口。

3.根据权利要求2所述的敏感器件检测工装,其特征在于,所述第一敏感器件(23)和所述第二敏感器件(24)上均沿长度方向间隔套设有第一光谱仪套(16)和第二光谱仪套(22),所述第一敏感器件(23)所在的所述安置通道和所述第二敏感器件(24)所在的所述安置通道内均设有与对应的所述第一光谱仪套(16)抵接的第一O型圈(29),所述限位板(25)上设有两个第一安置槽,两个所述第一安置槽内均设有第二O型圈(26),所述第一敏感器件(23)和所述第二敏感器件(24)的一端均套设有第二光谱仪套(22),且伸入并穿出对应的所述安置通道内与对应的所述第二O型圈(26)抵接。

4.根据权利要求3所述的敏感器件检测工装,其特征在于,所述光谱仪腔体(201)上设有多个导向槽,所述托板(27)上设有多个导向柱,多个所述导向槽与多个所述导向柱一一对应设置,所述压板(28)的底部设有第一磁条,所述托板(27)上设有与所述第一磁条磁吸的第二磁条(21)。

5.一种光谱仪,其特征在于,包括权利要求1-4任一项所述的敏感器件检测工装和壳体(2),所述壳体(2)内设有用于固定所述敏感器件检测工装的第二安置槽,所述壳体(2)内底部设有支撑板(3),所述支撑板(3)上设有移动电源、MTK电路板(1)、LCD电路板(6)、电源电路板(8)、转接电路板(10)、电池主板(11)、主板(12)和连接器电路板(13),所述主板(12)与所述MTK电路板(1)、所述LCD电路板(6)、所述电源电路板(8)串联连接,所述电池主板(11)与所述移动电源电连接,所述电池主板(11)通过所述连接器电路板(13)电连接所述电源电路板(8),所述壳体(2)外部设有指示灯(7)、触摸显示屏(4)和触摸按键(5),所述指示灯(7)、所述触摸显示屏(4)和所述触摸按键(5)电连接所述LCD电路板(6)。

6.根据权利要求5所述的光谱仪,其特征在于,所述壳体(2)的侧壁设有与所述电池主板(11)电连接的航空插头(9)。

7.根据权利要求5所述的光谱仪,其特征在于,所述壳体(2)的上部设有用于盖设所述第二安置槽的遮盖(14),所述遮盖(14)的端面嵌设有第三磁条(15),所述壳体(2)与所述遮盖(14)的接触面嵌设有与所述第三磁条(15)磁吸的第四磁条。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京华泰诺安探测技术有限公司,未经北京华泰诺安探测技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011366969.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top