[发明专利]用于长轴向FOV的改进的散射校正在审

专利信息
申请号: 202011368834.X 申请日: 2020-11-30
公开(公告)号: CN112907687A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 洪仁基;Z.伯巴;S.B.西格尔 申请(专利权)人: 美国西门子医疗系统股份有限公司
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 徐红燕;陈岚
地址: 美国宾夕*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 轴向 fov 改进 散射 校正
【权利要求书】:

1.一种计算机实现的方法,包括:

接收核成像数据集;

使用特定于环的单计数率生成核成像数据集的散射估计;和

生成合并了散射估计的临床图像。

2.根据权利要求1所述的计算机实现的方法,其中,所述特定于环的单计数率包括针对检测器中的每个环的每块平均单计数率。

3.根据权利要求1所述的计算机实现的方法,其中,所述特定于环的单计数率包括针对环中的每个块的单独块平均。

4.根据权利要求1所述的计算机实现的方法,进一步包括在生成所述散射估计之前生成多个2D正弦图。

5.根据权利要求1所述的计算机实现的方法,其中,使用蒙特卡洛过程或分析过程来生成所述散射估计。

6.根据权利要求1所述的计算机实现的方法,其中,所述核成像数据集由长轴向视场扫描仪生成。

7.根据权利要求1所述的计算机实现的方法,其中,所述特定于环的单计数率被配置为估计所述核成像数据集的能量窗的低级别鉴别器中的偏移。

8.一种系统,包括:

核成像扫描仪;和

计算机,其被配置为:

从核成像扫描仪接收核成像数据集;

使用特定于环的单计数率生成核成像数据集的散射估计。

9.根据权利要求8所述的系统,其中,所述特定于环的单计数率包括针对所述核成像扫描仪中的每个检测器环的每块平均单计数率。

10.根据权利要求8所述的系统,其中,所述特定于环的单计数率包括针对所述核成像扫描仪中的每个检测器环中的每个块的单独块平均。

11.根据权利要求8所述的系统,其中,所述计算机被配置为在生成所述散射估计之前生成多个2D正弦图。

12.根据权利要求8所述的系统,其中,所述散射估计是使用蒙特卡洛过程或分析过程来生成的。

13.根据权利要求8所述的系统,其中,所述核成像扫描仪是长轴向视场扫描仪。

14.根据权利要求8所述的系统,其中,所述特定于环的单计数率被配置为估计所述核成像扫描仪的能量窗的低级别鉴别器中的偏移。

15.一种存储指令的非暂时性计算机可读介质,所述指令被配置为使计算机系统执行以下步骤:

接收核成像数据集;

使用特定于环的单计数率生成核成像数据集的散射估计;和

生成合并了散射估计的临床图像。

16.根据权利要求15所述的非暂时性计算机可读介质,其中,所述特定于环的单计数率包括针对检测器中的每个环的每块平均单计数率。

17.根据权利要求15所述的非暂时性计算机可读介质,其中,所述特定于环的单计数率包括针对环中的每个块的单独块平均。

18.根据权利要求15所述的非暂时性计算机可读介质,其中,所述指令使所述计算机系统在生成所述散布估计之前执行生成多个2D正弦图的步骤。

19.根据权利要求15所述的非暂时性计算机可读介质,其中,使用蒙特卡洛过程或分析过程来生成所述散射估计。

20.根据权利要求15所述的非暂时性计算机可读介质,其中,所述核成像数据集由长轴向视场扫描仪生成。

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