[发明专利]芯片测试方法和计算芯片

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，待测的计算芯片包括多个核，所述多个核中的每个核包括用于存储该核的测试比较值的比较值寄存器，所述芯片测试方法包括：

针对待测的计算芯片的多个核中的每个核，基于安全散列算法，分别根据与核对应的测试输入数据以及核的属性数据来计算该核的测试比较值，并在该核的比较值寄存器中至少写入该核的测试比较值；

接收测试向量，其中，测试输入数据被包括在所述测试向量中；

所述多个核中的每个核并行地根据与该核对应的测试输入数据以及测试比较值来产生核测试结果，其中，在单次测试中，每个核并行地获取相应的测试输入数据并产生测试输出数据，通过并行地比较该核的测试输出数据与该核的测试比较值以产生核测试结果；

根据核测试结果生成所述计算芯片的芯片测试结果，并输出所述芯片测试结果。

2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述计算芯片中的核的数目为M，核的比较值寄存器中存储的数据能够从当前的核的比较值寄存器传递到下一个核的比较值寄存器中；

基于安全散列算法，分别根据与核对应的测试输入数据以及核的属性数据来计算该核的测试比较值包括：

按照从第M个核到第一个核的顺序，依次基于安全散列算法，根据与第i个核对应的测试输入数据以及属性数据来计算第i个核的测试比较值，其中，1≤i≤M；

当i＝M时，将第M个核的测试比较值写入第一个核的比较值寄存器中；

当iM时，按照从第M-i个核到第一个核的顺序，依次将当前的核的比较值寄存器中的测试比较值传递到下一个核的比较值寄存器中，以及将第i个核的测试比较值写入第一个核的比较值寄存器中，直至完成共M个核的测试比较值的写入。

3.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，基于安全散列算法，分别根据与核对应的测试输入数据以及核的属性数据来计算该核的测试比较值包括：

基于安全散列算法，分别根据与所述多个核中的每个核对应的测试输入数据以及属性数据来计算该核的测试比较值；

在每个核的比较值寄存器中，写入所述多个核中的所有核的测试比较值；

根据当前被测试的核的属性数据，从该核的比较值寄存器中的多个测试比较值中选择出与该核对应的测试比较值以用于测试。

4.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，在单次测试中，针对所述多个核中的每个核，测试输入数据是相同的。

5.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，核的属性数据包括与核一一对应的核标识。

6.根据权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，核标识根据仅使用一次的非重复随机数nonce的至少一部分产生。

7.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述多个核中的每个核并行地根据与该核对应的测试输入数据以及测试比较值来产生核测试结果包括所述多个核中的每个核并行地执行以下操作：

基于与核对应的测试输入数据以及属性数据，产生测试输出数据；

比较该核的测试输出数据与测试比较值；

根据测试输出数据与测试比较值的比较结果，确定该核的核测试结果。

8.根据权利要求7所述的芯片测试方法，其特征在于，核测试结果所占据的比特位数为1；

根据测试输出数据与测试比较值的比较结果，确定该核的核测试结果包括：

当该核的测试输出数据与测试比较值相同时，将该核的核测试结果置为0；

当该核的测试输出数据与测试比较值不同时，将该核的核测试结果置为1。

9.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，在至少两个测试频率下，分别对所述计算芯片执行芯片测试方法，以获得所述计算芯片在所述至少两个测试频率下的芯片测试结果。