[发明专利]电缆导体电阻测试仪

说明书

本发明涉及电缆导体电阻测试仪，主控单元为8051高速单片机，主控单元的输入输出端口为P0.0‑P0.7、P1.0‑P1.7、P2.0‑P2.7、P3.0‑P3.7，主控单元的VCC端口通过电阻R1与VCC连接，主控单元的VCC、P0.0、P0.1、P0.2、P0.3、P0.4端口还通过电阻R2与液晶显示屏连接，输入输出端口P1.0‑P1.7的八个端口与旋钮下部的导电片接触，导电片通过连接片与电性凸起连接，电性凸起与信号输入端电性连接，端口P3.0与按键开关S1连接，端口P3.1与按键开关S2连接，P3.2与按键开关S3连接，P3.3与按键开关S4连接，按键开关S1、S2、S3、S4的另一端接地，P3.0‑P3.3四个端口还与电阻R3连接，电阻R3的另一端接入VCC，P3.4‑P3.7四个端口连接有发光二极管D1，发光二极管D1的另一端连接有电阻R4；本发明具有快速测试、测试精度高、操作简便的优点。

技术领域

本发明涉及电缆检测设备技术领域，具体涉及一种电缆导体电阻测试仪。

背景技术

电线电缆的主要功能就是传输电能、信号和实现电磁转换，传输电力的如电力电缆、架空线等，广泛应用于电力系统线路中，在实际应用中，经常发现个别厂商的电缆铜屏蔽层不连续，甚至严重到某一相或者三相整段无铜屏蔽层；另外在安装维护单位制作电缆接头过程中，接头两端的铜屏蔽层接触不良或电缆接头处芯线导体接触不良等。当电缆铜屏蔽中某一点的电阻增大时，在电缆运行过程中，这一点的端电位便会增大，将会产生局部放电现象，久而久之便会形成电缆故障；若电缆导体接头处的导体接触不良，也会在接头产生较大的电位差，并产生较大热量，使电缆的局部温度升高而形成各种故障；因此，提供快速测试、测试精度高、操作简便的电缆导体电阻测试仪是非常有必要的。

发明内容

本发明的目的是为了克服现有技术的不足，而提供一种快速测试、测试精度高、操作简便的电缆导体电阻测试仪。

本发明的目的是这样实现的：电缆导体电阻测试仪，它包括主控单元、液晶显示屏和电池，所述主控单元为8051高速单片机，主控单元的输入输出端口为P0.0-P0.7、P1.0-P1.7、P2.0-P2.7、P3.0-P3.7，主控单元的VCC端口通过电阻R1与VCC连接，主控单元的VCC、P0.0、P0.1、P0.2、P0.3、P0.4端口还通过电阻R2与液晶显示屏连接，输入输出端口P1.0-P1.7的八个端口与旋钮下部的导电片接触，导电片通过连接片与电性凸起连接，所述电性凸起与信号输入端电性连接，端口P3.0与按键开关S1连接，端口P3.1与按键开关S2连接，P3.2与按键开关S3连接，P3.3与按键开关S4连接，按键开关S1、S2、S3、S4的另一端接地，P3.0-P3.3四个端口还与电阻R3连接，电阻R3的另一端接入VCC，P3.4-P3.7四个端口连接有发光二极管D1，所述发光二极管D1的另一端连接有电阻R4，电阻R4的另一端连接VCC；

主控单元还与芯片MAX232连接，芯片MAX232的输入输出端口为M1 IN、M2 IN、T1IN、T2 IN、M1 OUT、M2 OUT、T1 OUT、T2 OUT端口，端口P2.2与芯片MAX232的M1 OUT端口连接，端口M2 OUT与端口P2.0连接，端口T1 OUT与232连接头引脚相连，端口P2.1与端口T1 IN连接，端口M1 IN和端口M2 IN与232连接头的引脚相连，芯片MAX232的电源端V+通过电容C4与VCC端连接，V-通过电容C3与GND连接；

主控单元还与时钟模块连接，时钟模块芯片为DS1302，DS1302的端口Y1连接有电容C5和晶振管X2，晶振管X2的另一端连接端口Y2和电容C6，电容C5的另一端和电容C6的另一端连接并接地，DS1302的端口VCC1端连接VCC，端口SCLK连接电阻R5和主控单元的P0.5端口，端口I/O连接电阻R5和主控单元的P0.6端口,端口RST连接电阻R5和主控单元的P0.7端口,电阻R5连接VCC，DS1302与主控单元的连接仅需要三条线，即SCLK端口、I/O端口和RST端口。

旋钮下部设置有导电片，所述导电片通过连接片与电性凸起连接，所述电性凸起通过旋转分别与端口P1.0-P1.7接触。