[发明专利]荧光显微镜及用于升级荧光显微镜的构件组和模块在审

专利信息
申请号: 202011374478.2 申请日: 2020-11-30
公开(公告)号: CN112882215A 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: J·海涅;H·米特尔施泰特;M·罗伊斯;G·唐纳特 申请(专利权)人: 阿贝里奥仪器有限责任公司
主分类号: G02B21/00 分类号: G02B21/00;G02B21/06;G02B21/18;G02B26/06;G02B26/08
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 周家新
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 荧光显微镜 用于 升级 构件 模块
【权利要求书】:

1.一种荧光显微镜(10),其包括:

-照明光路,其用于利用照明光(8)照明样本,照明光路包括:

-照明光源(9),其提供照明光(8),

-第一波前调制器(24),其用于在空间上调制照明光(8),

-分束器(26),

-第二波前调制器(34),其用于进一步在空间上调制照明光(8),以及

-物镜(20),

-其中,第一波前调制器(24)被配置为用于调制照明光(8),以使得借助于物镜(20)聚焦的经调制的照明光(8)使样本(22)经受照明光(8)的包括中心强度最小值的强度分布,

-其中,第二波前调制器(34)是可调节的,其中,第二波前调制器(34)的有效区域(44)布置在物镜(20)的光瞳面(30)中或以一角度与物镜(20)的光瞳面(30)相交,其中,第一光瞳(31)出现在第二波前调制器(34)的有效区域(44)的位置处;

-检测光路,其用于共焦地检测从样本发射的荧光,检测光路包括第一区段和第二区段,

-其中,检测光路的第一区段包括第二波前调制器(34)并在分束器(26)处终止,检测光路的第一区段与照明光路重合,其中,检测光路的方向与检测光路的第一区段中的照明光路的方向相反,以及

-其中,检测光路的第二区段在分束器(26)处开始并包括用于共焦地检测荧光的检测单元(38),检测光路的第二区段与照明光路不重合,

其特征在于,第一望远镜(11)于第二波前调制器(34)与分束器(26)之间布置在所述第一区段中,使得第一望远镜(11):

-沿检测光路的方向将第一光瞳(31)成像到第二光瞳(32)中,第二光瞳(32)小于第一光瞳(31),以及

-将第二光瞳(32)中的准直的照明光(8)的光束转变为第一光瞳(31)中的准直的扩大的照明光(8)的光束。

2.根据权利要求1所述的荧光显微镜(10),其特征在于,第一光瞳(31)的第一直径与第二光瞳(32)的第二直径之比至少为1.2:1。

3.根据权利要求1所述的荧光显微镜(10),其特征在于,第二波前调制器(34)是包括可变形膜的可变形反射镜(51),所述可变形膜的表面是所述有效区域(44)。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的荧光显微镜(10),其特征在于,第一波前调制器(24)是:

-不可调节的无源光学元件;或者

-可调节的有源波前调制器(41)。

5.根据权利要求1至3中的任一项所述的荧光显微镜(10),其特征在于,第二望远镜(12)于第二波前调制器(34)与物镜(20)之间布置在所述第一区段中。

6.根据权利要求1所述的荧光显微镜(10),其特征在于,扫描器(27)布置在所述第一区段中的第二波前调制器(34)与镜筒透镜(28)之间,镜筒透镜(28)布置在第二波前调制器(34)与物镜(20)之间。

7.根据权利要求6所述的荧光显微镜(10),其特征在于,第二望远镜(12)于第二波前调制器(34)和物镜(20)之间布置在所述第一区段中,并且所述第二望远镜(12)布置在第二波前调制器(34)与扫描器(27)之间,以使照明光的光束直径适于物镜(20)的后孔隙(23)。

8.根据权利要求1-3、6、7中的任一项所述的荧光显微镜(10),其特征在于,第一望远镜(11)和第二波前调制器(34)的有效区域(44)于第一偏转反射镜(55)和第二偏转反射镜(56)之间布置在所述第一区段中,其中,第一偏转反射镜(55)和第二偏转反射镜(56)布置在照明光路和检测光路中,使得在从照明光路和检测光路移除第一偏转反射镜(55)和第二偏转反射镜(56)之后,所述荧光显微镜(10)仍能够进行包括使样本(22)经受照明光(8)的包括中心强度最小值的强度分布的操作。

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