[发明专利]存储器异常检测方法、装置、电子设备及可读存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种存储器异常检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，该方法包括：读取存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据；检验每个第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，得到检验结果；在检验结果为不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器异常。根据本发明实施例，能够快速确定电子设备中的存储器是否出现异常。

技术领域

本发明实施例涉及信息处理领域，尤其涉及一种存储器异常检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。

背景技术

随着电子设备的不断发展，为人们的生活带来了便利。其中，存储器是电子设备中必不可少的一个部件，存储器中存储着用户的大量信息(如照片、视频和重要数据等)。如果出现存储器异常，电子设备会无法开机，导致用户丢失存储器中存储的信息。因此，及时发现存储器的异常情况是十分必要的。

在实现本申请过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：目前对于存储器异常的检测效率较低。

发明内容

本发明实施例提供一种存储器异常检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，能够解决难以快速确定电子设备中的存储器出现异常的问题。

为了解决上述技术问题，本发明是这样实现的：

第一方面，本发明实施例提供了一种存储器异常检测方法，该方法可以包括：

读取存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据；检验每个第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，得到检验结果；在检验结果为不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器异常。

第二方面，本发明实施例提供了一种存储器异常检测装置，该装置可以包括：

读取模块，用于读取存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据；检验模块，用于检验每个第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，得到检验结果；确定模块，用于在检验结果为不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器异常。

第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序或指令，程序或指令被处理器执行时实现如第一方面的方法的步骤。

第四方面，本发明实施例提供了一种可读存储介质，可读存储介质上存储程序或指令，程序或指令被处理器执行时实现如第一方面的方法的步骤。

第五方面，本申请实施例提供了一种芯片，芯片包括处理器和通信接口，通信接口和处理器耦合，处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面的方法。

本发明实施例中，通过检验存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，由于该检验结果可以体现存储器的存储功能是否正常，在校验结果中不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器出现异常，由此，能够快速准确地确定电子设备中的存储器是否出现异常。

附图说明

从下面结合附图对本发明的具体实施方式的描述中可以更好地理解本发明其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。

图1为本发明实施例提供的一种存储器的内部结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种存储器异常检测方法的流程图；

图3为本发明实施例提供的一种写入预设数据的示意图；

图4为本发明实施例提供的一种实现存储器异常检测方法的流程图；

图5为本发明实施例提供的一种存储器异常检测装置结构示意图；

图6为本发明实施例提供的一种电子设备的硬件结构示意图。

具体实施方式