[发明专利]一种测试模组及信号测试方法在审
申请号: | 202011376806.2 | 申请日: | 2020-12-01 |
公开(公告)号: | CN112649697A | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 源俊华;黄仁仪;张资华;覃庆权;尹阳 | 申请(专利权)人: | 珠海博杰电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/08 | 分类号: | G01R31/08 |
代理公司: | 广州市红荔专利代理有限公司 44214 | 代理人: | 王贤义 |
地址: | 519000 广东省珠海市香洲*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 模组 信号 方法 | ||
本发明旨在提供一种结构紧凑、成本低且仪器利用率高的测试模组及信号测试方法。所述测试模组包括设置在屏蔽箱内的信号收发器以及若干反射组件,所述信号收发器与待测产品的其中一个信号收发端对准,若干所述反射组件与待测产品的其余信号收发端一一对应配合,所述反射组件将信号收发端的信号反射至所述信号收发器;所述信号测试方法包括以下步骤:S1.调整所述信号收发器和若干所述反射组件的角度和位置,使所有信号收发端发出的信号均能准确反射至所述信号收发器的接收点;S2.通过测试系统控制信号端口的切换,对待测产品的各个信号收发端逐一进行测试。本发明应用于通讯测试的技术领域。
技术领域
本发明应用于通讯测试的技术领域,特别涉及一种测试模组及信号测试方法。
背景技术
便携式电子产品设有用于进行通讯的通讯天线,为了提高通讯质量通常设有多个通讯天线。生产过程中需要对电子产品进行测试,为了减少外界干扰测试设备需要设置于屏蔽箱内。目前业界通用的测试方法有两种:1.采用多点对多点的方式,一个测试天线对应一个待测天线;2.采用产品旋转的方式,翻转产品,使得测试天线轮流对准各个待测天线。对于第一种测试方案,需要使用多根测试天线,成本较高,由于毫米波测试都使用远场测试,天线间的距离必须大于某特定值,所以该方案的屏蔽箱体积较大,这对产线不友好,特别是待测天线较多的情况下,如5G通讯测试领域。而对于第二种测试方案,虽然可以解决第一种方案的成本问题,但由于切换过程耗时较大,仪器利用率不高,容易造成浪费,同时,夹具结构比较复杂,还会使用大量金属器件,不利于射频测试。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供了一种结构紧凑、成本低且仪器利用率高的测试模组及信号测试方法。
本发明所采用的技术方案是:所述测试模组包括设置在屏蔽箱内的信号收发器以及若干反射组件,所述信号收发器与待测产品的其中一个信号收发端对准,若干所述反射组件与待测产品的其余信号收发端一一对应配合,所述反射组件将信号收发端的信号反射至所述信号收发器。
由上述方案可见,通过所述信号收发器与其中一个信号收发端直接对齐进行测试,并通过若干所述反射组件将待测产品其余的信号收发端信号反射所述信号收发器实现信号测试。通过采用反射信号的方式延长通讯距离,满足远场测试的要求,同时降低对屏蔽线体积的要求,便于产线的设置。采用单个信号收发器完成信号测试,降低测试成本。同时无需移动待测产品或信号收发器即可完成所有信号收发端的测试,所述信号收发器的闲置时间少,利用率高。
一个优选方案是,所述屏蔽箱内设有产品托板,所述信号收发器位于所述产品托板的上方,若干所述反射组件与所述产品托板位于同一水平高度。
由上述方案可见,通过设置所述产品托板对待测产品进行承托和限位。通过将若干所述反射组件设置在与所述产品托板同一水平高度,进而实现对设置在待测产品侧面的信号收发端进行信号反射。
一个优选方案是,所述反射组件包括反射镜和三轴调整结构,所述反射镜连接在所述三轴调整结构的活动端上。
由上述方案可见,所述反射镜用于反射信号波。通过设置所述三轴调整结构实现调整所述反射镜的位置。
进一步的优选方案是,所述三轴调整结构包括安装板、X轴滑动支柱和Y轴滑块,所述安装板固定在所述屏蔽箱的侧壁上,所述安装板上设有与所述X轴滑动支柱相适配的直线滑槽,所述X轴滑动支柱远离所述安装板的一端设有Z轴升降导柱,所述Y轴滑块滑动配合在所述Z轴升降导柱上,所述Y轴滑块上设有直线滑轨,所述反射镜滑动配合在所述直线滑轨上。
由上述方案可见,通过所述X轴滑动支柱与所述安装板配合、所述反射镜与所述直线滑轨配合,进而实现所述反射镜在水平面上的位置调整。通过所述Y轴滑块与所述Z轴升降导柱配合,进而实现所述反射镜在竖直方向上的位置调整。所述X轴滑动支柱上设有与所述直线滑槽配合的第一紧固螺钉,所述反射镜上设有与所述直线导轨配合的第二紧固螺钉,所述Y轴滑块上设有与所述Z轴升降导柱配合的第三紧固螺钉。
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