[发明专利]一种相位扰动检测装置有效

专利信息
申请号: 202011377365.8 申请日: 2020-11-30
公开(公告)号: CN112595924B 公开(公告)日: 2022-06-17
发明(设计)人: 王子晔;杨春;朱恩;徐玮杰 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01R31/08 分类号: G01R31/08
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 吴旭
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 相位 扰动 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种相位扰动检测装置,其特征在于,包括功分延时模块、正交基带信号产生电路(4)、第一反向器(5)、第二反向器(6)、第一隔直电路(7)、第二隔直电路(8)、第三隔直电路(9)、第四隔直电路(10)、多路复用器(11)、第一比较器(12)、第二比较器(13);

所述功分延时模块用于将待测信号分成两路并经过不同延时后输入到正交基带信号产生电路(4)的A输入端口和B输入端口,正交基带信号产生电路(4)的I输出端口连接到第一反向器(5)和第一隔直电路(7),第一反向器(5)的输出连接到第二隔直电路(8);正交基带信号产生电路(4)的Q输出端口连接到第二反向器(6)和第四隔直电路(10),第二反向器(6)的输出连接到第三隔直电路(9);

第一隔直电路(7)、第二隔直电路(8)、第三隔直电路(9)以及第四隔直电路(10)的输出分别对应连接到多路复用器(11)的A、B、C、D输入端口,多路复用器(11)选择其中一路输入电压,并通过S端口输出;

第一比较器(12)的输出连接到多路复用器(11)的控制位M,第二比较器(13)的输出连接到多路复用器(11)的控制位L;第一比较器(12)和第二比较器(13)的输入为正交基带信号产生电路(4)的两路输出、第一反向器(5)的输出、第二反向器(6)输出的排列组合,使多路复用器(11)输出电压的斜率随相位单调变化。

2.根据权利要求1所述的相位扰动检测装置,其特征在于,所述功分延时模块中,功分单元采用电功分结构或光功分结构。

3.根据权利要求1所述的相位扰动检测装置,其特征在于,所述正交基带信号产生电路(4)采用I/Q混频电路,或采用耦合器和检波器的组合电路。

4.根据权利要求2所述的相位扰动检测装置,其特征在于,所述功分延时模块包括功分单元(1)、第一延时单元(2)、第二延时单元(3);输入待测信号连接到功分单元(1)的C端,功分单元(1)的A输出端口经第一延时单元(2)连接到正交基带信号产生电路(4)的A输入端口,功分单元(1)的B输出端口经第二延时单元(3)连接到正交基带信号产生电路(4)的B输入端口。

5.根据权利要求2所述的相位扰动检测装置,其特征在于,所述功分延时模块包括激光器(201)、光电调制器(202)、第一光延时单元(203)、第一光电探测器(204)、第二光延时单元(205)、第二光电探测器(206)、光功分单元(207);激光器(201)连接到光电调制器(202)的A端口,输入待测信号连接到光电调制器(202)的B端口,光电调制器(202)的S端口输出光信号,并连接到光功分单元(207)的S端口;光功分单元(207)将光信号分为两路,其中一路经过端口A输出到第一光延时单元(203),另一路光信号经过端口B输出到第二光延时单元(205);第一光延时单元(203)连接到第一光电探测器(204),第一光电探测器(204)输出延时后的电信号,第二光延时单元(205)连接到第二光电探测器(206),第二光电探测器(206)输出另一路延时后的信号;第一光电探测器(204)连接到正交基带信号产生电路(4)的A输入端口,第二光电探测器(206)连接到正交基带信号产生电路(4)的B输入端口。

6.根据权利要求3所述的相位扰动检测装置,其特征在于,所述正交基带信号产生电路(4)采用I/Q混频电路,包括功分单元(401)、第一混频器(402)、第二混频器(403)、正交耦合器(404)、匹配电路(405);输入信号A连接到功分单元(401)的S端,功分单元(401)的A输出端连接到第一混频器(402)的LO端;功分单元(401)的B输出端连接到第二混频器(403)的LO端;输入信号B连接到正交耦合器(404)的S端,正交耦合器(404)的R端口与匹配电路(405)连接,正交耦合器(404)的I端口和Q端口输出相位相差90°的信号,正交耦合器(404)的I端口连接到第一混频器(402)的RF端,正交耦合器(404)的Q端口连接到第二混频器(403)的RF端;其中第一混频器(402)的IF端与第二混频器(403)的IF端输出相位相差90°的下变频信号。

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