[发明专利]一种Typec接头插拔测试机构在审

专利信息
申请号: 202011378420.5 申请日: 2020-12-01
公开(公告)号: CN112526408A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 刘丹;陆小珊 申请(专利权)人: 深圳市沃特邦检测仪器设备有限公司
主分类号: G01R31/69 分类号: G01R31/69;G01R1/04
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 黄广龙
地址: 518500 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 typec 接头 测试 机构
【权利要求书】:

1.一种Typec接头插拔测试机构,用于测试具有Typec接头(110)和第一对扣连接器(120)的Typec模组(100),其特征在于,包括:

机架(200);

第一测试装置(300),安装于所述机架(200)上表面,所述第一测试装置(300)上设有第二对扣连接器(310),所述第二对扣连接器(310)与所述第一对扣连接器(120)对扣连接;

第二测试装置(400),安装于所述机架(200)上表面,所述第二测试装置(400)上设有能与所述Typec接头(110)相插连接的Typec插口(410),所述第一测试装置(300)与所述第二测试装置(400)电连接。

2.根据权利要求1所述的一种Typec接头插拔测试机构,其特征在于,所述第一测试装置(300)包括朝向所述第二测试装置(400)的延伸部(320),所述第二对扣连接器(310)设置在所述延伸部(320)上,所述机架(200)上表面安装有第一定位块(210),所述第一定位块(210)上设有供所述延伸部(320)卡入的第一凹槽(211)。

3.根据权利要求2所述的一种Typec接头插拔测试机构,其特征在于,所述第一定位块(210)上设有第二定位块(220),所述第二定位块(220)上设有与所述第一对扣连接器(120)外形相匹配的第二凹槽(221),以承托所述第一对扣连接器(120),所述第二凹槽(221)底面设有定位孔(222),所述第二对扣连接器(310)能穿过所述定位孔(222)与所述第一对扣连接器(120)对扣连接。

4.根据权利要求3所述的一种Typec接头插拔测试机构,其特征在于,所述机架(200)内设有升降装置(201),位于所述第一定位块(210)下方,所述升降装置(201)包括顶杆,所述第一定位块(210)上设有能供所述顶杆穿过的通孔,所述顶杆穿过所述第一定位块(210)并与所述第二定位块(220)螺纹连接,所述顶杆能将所述第二定位块(220)顶起以分离所述第一对扣连接器(120)和所述第二对扣连接器(310)。

5.根据权利要求3所述的一种Typec接头插拔测试机构,其特征在于,所述第二定位块(220)上表面活动安装有连接器压块(223),所述连接器压块(223)能活动至所述第二凹槽(221)的上方,以对承托于所述第二凹槽(221)内的所述第一对扣连接器(120)进行高度方向上的限位,所述机架(200)上表面设有压夹机构(230),所述压夹机构(230)能活动至压紧所述连接器压块(223)上表面。

6.根据权利要求5所述的一种Typec接头插拔测试机构,其特征在于,所述第二定位块(220)上表面设有第三凹槽(224),所述第二凹槽(221)设置在所述第三凹槽(224)的底面,所述连接器压块(223)上设有导向槽(225)和一延伸至所述第三凹槽(224)内的凸块(226),所述第二定位块(220)上固设有部分穿过所述导向槽(225)的导向螺钉,所述凸块(226)能滑动至所述第二凹槽(221)的上方以限制所述第一对扣连接器(120)高度方向上的位移。

7.根据权利要求1所述的一种Typec接头插拔测试机构,其特征在于,所述机架(200)上表面安装有第三定位块(240),所述第三定位块(240)上设有可供所述Typec接头(110)卡入的定位槽(241),所述定位槽(241)中设有定位柱(242),所述Typec模组(100)上设有与所述定位柱(242)配合的通孔,以将所述Typec接头(110)定位在所述定位槽(241)中。

8.根据权利要求7所述的一种Typec接头插拔测试机构,其特征在于,所述第三定位块(240)上活动安装有Typec压块(243),所述Typec压块(243)能活动至所述定位槽(241)上方且所述第三定位块(240)上表面与所述Typec压块(243)相抵,以限制所述定位槽(241)中的所述Typec接头(110)高度方向上的位移。

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