[发明专利]可自动调节的在线波长色散分析仪光路装置及使用方法在审
申请号: | 202011381042.6 | 申请日: | 2020-12-01 |
公开(公告)号: | CN112611776A | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 张伟;吴佰逊;刘永睿;周洪军;陈树军;尹兆余;张生祥;殷晓龙;聂崧航 | 申请(专利权)人: | 丹东东方测控技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 118002 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 调节 在线 波长 色散 分析 仪光路 装置 使用方法 | ||
本发明提供一种可自动调节的在线波长色散分析仪光路装置及使用方法,包括在分光壳体的内部安装晶体台、晶体座,晶体座上有分光晶体,晶体座通过轴销与晶体台连接,晶体座能够转动,通过电机控制转轴的转动来调节晶体座的旋转角度,通过多圈绝对值编码器间接记录晶体座的旋转角度,通过对计数率‑旋转角度的谱形进行处理,确定晶体座的最佳旋转角度。通过对电机的控制,实现对光路的自动调节,使整个光路的效果达到最佳,避免了因环境的温度变化、震动等不利因素影响造成的仪表分析精度降低,减少了维护的工作量,不用打开仪器装置进行手动调节。
技术领域
本发明涉及一种工业物料成分在线分析领域,具体说涉及一种可自动调节的在线波长色散分析仪光路装置及使用方法。
背景技术
X射线荧光光谱分析是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。
X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,分为色散型和非色散型两种。色散型又分为波长色散型和能量色散型。波长色散型荧光光谱仪是用分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X射线波长和强度,从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光谱仪是借助高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量,由于原理的不同,故仪器结构也不同。能量色散型荧光和波长色散型荧光折两种仪器,各有所有点和不足,它们只能互补,而不能替代。
波长色散型XRF光谱仪由X射线管激发源、分光系统、探测器系统、真空系统和气流系统等部分组成。根据分析晶体的聚焦几何条件不同,分为非聚焦反射平晶式、半聚焦反射弯晶式、全聚焦反射弯晶式、半聚焦透射弯晶式等。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体需安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。
而如果只为了分析某一种元素的含量的时候,则无需测角仪,只要把分光晶体以合适的角度固定在分光系统中。由于波长色散分析仪的分光系统结构精密,目前属于适合在实验室分析的用途,而用在工业在线检测分析的话,由于有些工业生产现场的恶略条件,如环境温度变化波动大、存在持续的震动或震幅较大等,都严重影响了波长色散分析仪在工业现场应用的效果。
特别是波长色散分析仪在工业现场运行一段时间后,随着温度变化和震动等影响,导致分光晶体对X荧光的反射聚焦状态发生改变,使探测器接收到的有效X荧光强度降低,影响分析精度。目前对此类现象的维修手段就是工作人员拆开分析仪,使用手工调节,而又受到现场的潮气大、粉尘多、空间狭小等不利条件,导致调试工作非常困难。
发明内容
针对目前系统所存在的不足,本发明提出一种可自动调节的在线波长色散分析仪光路装置及使用方法。
本发明的具体内容为:
在分光壳体(101)的内部,安装四块遮挡块(102),安装晶体台(203);晶体座(202)通过轴销(204)与晶体台(203)连接,晶体座(202)能够以轴销(204)为中心转动;在晶体台(203)上固定有弹簧片(205),弹簧片(205)的翘起部位顶在晶体座(202)的一端;晶体座(202)上固定有分光晶体(206);分光壳体(101)开有圆孔,圆孔的内部设有螺纹;晶体台(203)开有圆孔,晶体台(203)的圆孔与分光壳体(101)的圆孔是同心的,且晶体台(203)的圆孔的内径要比分光壳体(101)的圆孔的内径要大;
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