[发明专利]一种精准型半导体照明检测系统

说明书

本发明公开了精准型半导体照明检测技术领域的一种精准型半导体照明检测系统，包括检测台和移动架，所述检测台顶部开设有第一槽口，所述移动架滑动连接在第一槽口的内壁上，所述第一槽口内壁连接有动力装置，所述动力装置位于移动架下方，并且用于驱动所述移动架向前移动；本发明通过设置驱动装置和限位装置，利用重物块的下落带动滚轮转动，滚轮通过第一轴带动传动辊转动，传动辊通过传送带带动圆柱半导体转动一个圆周以上，实现了对圆柱半导体的整个表面的检测，无需人工拿取转动到另外一面在进行检测，保证了检测的高效进行，同时由于是传送带带动圆柱半导体进行转动，两者接触为软接触，保护圆柱半导体不会受到损伤。

技术领域

本发明涉及精准型半导体照明检测技术领域，具体为一种精准型半导体照明检测系统。

背景技术

半导体器件生产中，从半导体单晶片到制成最终成品，须经历数十甚至上百道工序。为了确保产品性能合格、稳定可靠，并有高的成品率，根据各种产品的生产情况,对所有工艺步骤都要有严格的具体要求。

现有技术中公开了部分半导体检测的发明案件，发明专利申请号为202010749257.2的中国专利，包括底板，底板内设有插槽，底板的上端接触连接有立柱，立柱的下端设有插块，插块通过插槽滑动连接有底板，立柱内设有第一空腔，第一空腔内设有电动伸缩杆。

现有技术中的半导体检测装置，该装置只能对半导体的一面进行检测，无法自动完成对半导体整体的检测，当需要检测半导体另一面时，需人工将其取出后再次放入到检测装置中进行检测，检测效率低。

基于此，本发明设计了一种精准型半导体照明检测系统，以解决上述问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种精准型半导体照明检测系统，以解决上述背景技术中提出的现有技术中的半导体检测装置，该装置只能对半导体的一面进行检测，无法自动完成对半导体整体的检测，当需要检测半导体另一面时，需人工将其取出后再次放入到检测装置中进行检测，检测效率低的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种精准型半导体照明检测系统，包括检测台和移动架，所述检测台顶部开设有第一槽口，所述移动架滑动连接在第一槽口的内壁上，所述第一槽口内壁连接有动力装置，所述动力装置位于移动架下方，并且用于驱动所述移动架向前移动，所述检测台顶部固定连接有框型架，所述框型架底部连接有电缸，所述电缸底部固定连接有检测板，所述检测板底部固定连接有检测头，所述移动架两侧均开设有第二槽口，所述移动架顶部两侧均固定连接有支撑板，两个所述支撑板共同固定连接有安装架，所述安装架内壁连接有圆柱半导体，所述移动架内壁连接有驱动所述圆柱半导体转动的驱动装置，所述第二槽口内壁开设有两个贯穿移动架内壁的第一通槽，所述第一通槽内壁连接有限位装置，所述限位装置用于限制驱动装置，所述限位装置由检测板触发解除限位所述驱动装置；

所述驱动装置包括四个第二弹簧，所述第二弹簧端部固定连接在移动架的内壁上，所述第二弹簧另一端固定连接有支撑台，所述支撑台顶部固定连接有支撑杆，所述支撑杆在限位装置的限位下保持现有高度，所述支撑杆顶部固定连接有第一圆盘，所述移动架内壁转动连接有两个第一轴，所述第一轴贯穿移动架和第一圆盘，所述第一轴和第一圆盘转动连接，所述第一轴端部固定连接有转动盘，所述第一轴表面固定连接有传动辊和两个滚轮，所述滚轮表面缠绕有第一绳索，所述第一绳索端部固定连接在滚轮上，所述第一绳索另一端固定连接有重物块，两个所述传动辊表面共同传动连接有传送带，所述移动架内壁转动连接有第二轴，所述第二轴贯穿移动架，所述第二轴表面转动连接有两个转板，所述转板顶部和重物块底部相接触，所述移动架内壁固定连接有四个固定板，所述固定板顶部开设有滑槽，所述滑槽内壁滑动连接有L楔形板，所述L楔形板侧面呈斜面，所述L楔形板端部插接在转板的侧面，所述L楔形板侧面固定连接有第一矩形板，所述固定板顶部固定连接有第二矩形板，所述第一矩形板和第二矩形板共同固定连接有第三弹簧，所述支撑杆侧面固定连接有挤压杆；