[发明专利]图像匹配方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202011384473.8 申请日: 2020-11-30
公开(公告)号: CN112581516A 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 王鹏 申请(专利权)人: 北京迈格威科技有限公司
主分类号: G06T7/33 分类号: G06T7/33
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 董艳芳
地址: 100090 北京市海淀区科*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 图像 匹配 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种图像匹配方法,其特征在于,包括:

对第一图像中的每一第一像元的预设邻域进行特征描述,以获取对应第一图块的第一局部直方图,其中,每一所述第一图块由所述第一图像中的一对应第一像元及该第一像元的预设邻域构成;

对每一第一局部直方图进行降维,以得到第一降维直方图空间;

根据所述第一降维直方图空间构建二叉树结构;

对第二图像中的至少一第二像元的预设邻域进行特征描述,以获取对应第二图块的第二局部直方图,其中,所述第二图块由所述第二图像中的对应第二像元及该第二像元的预设邻域构成;

对每一第二局部直方图进行降维,以得到对应的第二降维局部直方图;

根据每一所述第二降维局部直方图以及所述二叉树结构查询所述第一图像中的与每一所述第二图块的相似度最高的第一图块。

2.根据权利要求1所述的图像匹配方法,其特征在于,所述至少一第二像元包括所述第二图像的每一第二像元,或者所述至少一第二像元包括所述第二图像的部分第二像元。

3.根据权利要求1所述的图像匹配方法,其特征在于,所述对第一图像中的每一第一像元的预设邻域进行特征描述,以获取对应的每一第一图块的第一局部直方图,包括:

采用公式hist(x)=F(x)计算所述第一图像的每一第一像元对应的第一图块的第一局部直方图,其中,x表示[0,255]的离散灰度等级值,F(x)表示离散灰度等级值x在对应所述第一图块中出现的频率。

4.根据权利要求3所述的图像匹配方法,其特征在于,所述对每一第一局部直方图进行降维,以得到第一降维直方图空间,包括:

将每一所述第一局部直方图的256维的描述向量合并为M维的描述向量,以得到对应的第一降维局部直方图,其中,M小于256。

5.根据权利要求1-4任一项所述的图像匹配方法,其特征在于,所述方法还包括以下步骤:

对每一所述第一图块进行二进制描述,以得到对应的第一二进制空间,第一二进制空间包括每一第一图块的二进制特征向量;

对每一所述第二图块进行二进制描述,以得到对应的第二二进制空间,第二二进制空间包括每一第二图块的二进制特征向量;

所述根据每一所述第二降维局部直方图以及所述二叉树结构查询所述第一图像中的与每一所述第二图块相似度最高的第一图块,包括:

根据每一第二图块的第二降维局部直方图及二进制特征向量、所述二叉树结构、所述第一二进制空间查询所述第一图像中与每一所述第二图块相似度最大的第一图块。

6.根据权利要求5所述的图像匹配方法,其特征在于,所述根据每一第二图块的第二降维局部直方图及二进制特征向量、所述二叉树结构、所述第一二进制空间查询所述第一图像中与每一所述第二图块相似度最大的第一图块,包括:

根据每一第二图块的第二降维局部直方图在所述二叉树结构上查找相似度最大的目标节点;

将每一所述第一图块的以所述目标节点为中心的预设范围内的多个节点对应的二进制特征向量分别与所述第二图块的二进制特征向量进行对比,以筛选与所述第二图块相似度最高的第一图块。

7.根据权利要求6所述的图像匹配方法,其特征在于,将以所述目标节点为中心的预设范围内的多个节点对应的二进制特征向量分别与所述第二图块的二进制特征向量进行对比,以筛选相似度最高的第一图块,包括:

将每一所述第一图块的以所述目标节点为中心的预设范围内的多个节点对应的二进制特征向量分别与所述第二图块的二进制特征向量进行对比,并以汉明距离作为相似度函数,筛选出多个相似度大于预设阈值的候选图块;

对多个所述候选图块进行二进制汉明距离排序,以选择出二进制汉明距离最小的候选图块作为与对应第二图块相似度最大的第一图块。

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