[发明专利]一种超导磁体性能检测设备及方法

权利要求书

1.一种超导磁体性能检测设备，应用于超导磁体感应加热设备，所述超导磁体加热设备包括超导磁体、杜瓦容器和制冷机，且所述超导磁体包括铁芯，线圈和超导带材，其特征在于，所述超导磁体性能检测设备包括：

超导带材检测装置，用于检测所述超导带材的载流能力和强度能力，且所述超导带材检测装置包括弯曲装置和拉伸机；

磁体检测装置，用于检测所述超导磁体的气隙中各位置磁场的强弱；

真空特性检测装置，用于检测所述杜瓦容器的真空特性；

超导磁体的热均匀性或导热性检测装置，用于检测所述超导磁体的热均匀性或所述超导磁体的导热性能。

2.如权利要求1所述的超导磁体性能检测设备，其特征在于，所述超导带材检测装置还包括：

供电单元，用于为所述超导带材提供电压，且所述供电单元的输出电压可调节；

分流器，连接至所述供电单元，且所述超导带材连接于所述分流器；

电压表，连接至所述超导带材，以测定所述超导带材的电压；

电流表，连接至所述超导带材，以测定所述超导带材的电流。

3.如权利要求2所述的超导磁体性能检测设备，其特征在于，所述磁体检测装置包括：

探测板，设置于所述超导磁体的气隙空间中；

多个霍尔元件，均匀设置于所述探测板上，且多个所述霍尔元件形成的形状与所述超导磁体的截面形状相同设置。

4.如权利要求3所述的超导磁体性能检测设备，其特征在于，所述真空特性检测装置包括：

真空机组，连接于所述杜瓦容器；

复合真空计，设置于所述杜瓦容器内。

5.如权利要求4所述的超导磁体性能检测设备，其特征在于，所述超导磁体的热均匀性或导热性检测装置包括：

低温恒温器，设置于所述铁芯内部；

第一温度计，设置于所述低温恒温器中，以确定所述线圈的温度；

第二温度计，用于确定所述制冷机的冷头和所述线圈连接处的温度。

6.一种超导磁体性能检测方法，其特征在于，应用于如权利要求5所述的超导磁体性能检测设备，所述超导磁体性能检测方法包括：

超导带材检测方法，包括：

S1，将所述超导带材连接于所述超导带材检测装置，且将所述超导带材的温度T恒定在72K-82K之间；

S2，控制所述超导带材检测装置对所述超导带材进行升压操作；

S3，确定所述超导带材的载流能力是否合格，若所述超导带材的载流能力不合格，重复S1-S3对下一个所述超导带材进行检测；

S4，若所述超导带材的载流能力合格，将所述超导带材放置于液氮环境中，等待所述超导带材冷却完毕；

S5，所述弯曲装置对所述超导带材弯曲至预设弯曲半径D，重复步骤S2，直到所述预设弯曲半径D=12cm，确定所述超导带材的弯曲特性是否合格，若所述超导带材的弯曲特性不合格，重复S1至S5对下一个所述超导带材进行检测；

S6，若所述超导带材的弯曲特性合格，所述拉伸装置在预设应力S下对所述超导带材拉伸，重复步骤S2，直到所述预设应力ST=450Mpa，确定所述超导带材的拉伸特性是否合格，若所述超导带材的拉伸特性不合格，重复S1至S6对下一个所述超导带材进行检测，若所述超导带材的拉伸特性合格，确定所述超导带材的载流能力和强度能力合格；

步骤S1-S6中所述超导带材的电压V范围为0≤V≤1.8μV/cm。

7.如权利要求6所述的超导磁体性能检测方法，其特征在于，所述超导磁体性能检测方法还包括：

真空特性检测方法，包括：

将所述真空机组的管路连接于所述杜瓦容器的抽空阀门，且将复合真空计设置于所述杜瓦容器内，且启动所述复合真空计，启动所述真空机组，对所述杜瓦容器进行抽空，当所述复合真空计达到预定真空值后，停止所述真空机组，且所述预定真空值在预设时间内不发生改变，确定所述杜瓦容器的真空特性合格。